NplusT NanoCycler NAND 特性分析仪
一站式 NAND 表征测试分析仪，测试各种规格NAND在各种温度下的的协议特性
Nanocycler NAND 特性分析仪是一站式的NAND表征特性测试平台，
制造商NplusT从2002年起专注于Memory测试，其针对研发中心的NAND特性分析设备获得业内众多SSD Controller公司以及科研院所和高校的青睐。
NplusT提供的针对测试数据的后处理大数据分析软件也得到了众多应用。该NAND特性分析设备支持业内常用的Kioxia, Micron, Sandisk, WDC, YMTC等NAND。
以下从特性，主要功能和应用层面概述：
Features: 特性：
- Test per package architecture allows fully independent test on every package.
按包测试架构允许对每个包进行完全独立的测试。 - Allows at-speed characterization up to 2.4GT/sec, ensuring the operation of the devices under test in an application-similar environment.
允许进行高达 2.4GT/秒的全速表征，确保被测设备在类似应用的环境中运行。 - Supports the aging and testing of NAND devices by providing Python (optionally C++) API with full ONFI 5 command set, with vendor-specific commands and with customizable signal sequences.
通过提供具有完整 ONFI 5 命令集、供应商特定命令和可自定义信号序列的 Python（可选 C++）API，支持 NAND 设备的老化和测试。 - Provides high-resolution – 10 mV – programmable power supplies to verify tolerance against voltage drift.
提供高分辨率（10 mV）可编程电源，以验证电压漂移的容限。
- Captures the power consumption on each supply at 50 nsec sampling rate and 1 mA resolution; by storing the waveform during an operation sequence and by providing the average or peak current during long device exercising.
以 50 纳秒采样率和 1 mA 分辨率捕获每个电源的功耗；通过在操作序列期间存储波形并在设备长时间运行期间提供平均或峰值电流。 - Characterizes the interface timing with 1 nsec edge placement and 20 nsec resolution response time detection.
通过 1 纳秒边缘放置和 20 纳秒分辨率响应时间检测来表征接口时序。 - Provides DQS alignment window information at psec resolution.
提供 psec 分辨率的 DQS 对齐窗口信息。 - Integrates a data analysis environment to post-process and present the characterization results to accelerate the path to decision.
集成数据分析环境以进行后处理并呈现表征结果，以加速决策路径。
Primary Functions: 主要功能：
- Aging and endurance 衰老和耐力
- Retention 保留
- Working window analysis 工作窗口分析
- RBER monitor RBER监视器
- Operation timing analysis
操作时序分析 - Distribution analysis 分布分析
- Optimal read conditions 最佳读取条件
- Error recovery flow trigger rates
错误恢复流程触发率 - Suspend operations 暂停运营
- Vendor specific commands
供应商特定命令 - Bad blocks 坏块
- DQS timing margin analysis
DQS时序裕度分析 - Power profiling 功率分析
- Power fluctuation 功率波动
- Timing characterization 时序特性
Applications: 应用：
- NAND characterization NAND 表征
- NAND lifetime extension NAND 寿命延长
- ECC/LDPC analysis ECC/LDPC 分析
- Reliability testing 可靠性测试
- Incoming inspection 即将到来的检查
- Production lot qualification
生产批次资质 - Media management validation
媒体管理验证
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产品功能 |
STD800 (Standard 800M) |
HS16 (High Speed 1.6GT) |
HS24 (High Speed 2.4GT) |
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支持协议 |
- NV-SDR - NV-DDR - NV-DDR2 - NV-DDR3 |
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支持的NAND封装 |
BGA 152/132 |
BGA 152/132 |
BGA 154/152/132 |
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支持的最大速度 |
800 MT/sec |
1.6 GT/sec |
2.4 GT/sec |
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Timing Modes模式 |
Mode 0 - Mode 10 |
Mode 0 - Mode 15 |
Mode 0 - Mode 19 |
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Pattern发生器 |
- 高质量伪随机码 - 0开销 - 全0, 全1, 替换轮流 - 用户从指定文件导入的pattern |
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数据采集 |
- 每chunck或者每page的0开销的fail bit计数 - 完整的bitmap上传到管理电脑硬盘 |
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时序分析 |
- 1us 信号捕获 |
- 1ns edge placement - 20ns信号捕获 |
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电压拉偏功能 |
- 通过跳线设定 - 支持编程打开/关闭 |
- 支持API编程 - 支持编程打开/关闭 - Vccq: 0.95V~1.9V, 1000mA - Vcc: 1.0V~3.8V, 500mA - Vpp: 10V~15V, 100mA |
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电流测量 |
分流电阻到外置探针进行测量 |
- 波形抓取 - 峰值和平均值捕获 - 2k的采样buffer空间 - 硬件实现平均值计算 50ns采样率 1mA分辨率 |
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温度控制 |
- 支持室温，例如25°C~125 °C (可以放置在 0°C的温箱里面) - 1°C的精准度 - 从室温加热到125度大概5分钟，然后再降温到室温约3分钟，总计大概8分钟 |
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产品架构 |
- 开发平台（单socket） - 桌面系统（6个socket) - 机架系统（24或者48个socket，通过4或者8个桌面系统堆叠） - 高密度系统（84个socket，7个12 socket的桌面系统堆叠） - 每个socket可以运行独立的测试：不同的测试脚本，nand类型，温度访问，异步运行和停止 - NAND的追踪信息再多个系统间共享 |
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Product Configurations 产品配置
| Equipment 设备 | Tester Units 测试仪单元 |
|---|---|
| 84-socket (7 shelves, 12 Tester Units each) rack 84 插槽（7 个搁板，每个搁板 12 个测试单元）机架 |
STD - 800 MT/sec BGA132/152 |
| 48-socket (8 shelves, 6 Tester Units each) rack 48 插槽（8 个搁板，每个搁板 6 个测试单元）机架 |
HS16 BGA152 - 1.6GT/sec BGA132/152 |
| 24-socket (4 shelves, 6 Tester Units each) rack 24 插槽（4 个搁板，每个搁板 6 个测试单元）机架 |
HS24 BGA152 - 2.4GT/sec BGA132/152 |
| 8-socket desktop (PCIe) 8 插槽台式机 （PCIe） | HS24 BGA154 - 2.4 GT/sec BGA154/178 |
| 6-socket desktop 6 插槽台式机 | |
| 1-socket development station 1 插槽开发站 |
Other sockets on request 可根据要求提供其他插槽 |
| Installable in climatic chamber (XT Tester Units) 可安装在温箱中（XT测试仪单元） |
XT16 BGA152 - 1.6GT/sec BGA132/152 XT16 BGA152 - 1.6GT/秒 BGA132/152 |
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