NAND高清视频(第三期):深入Cell级别的3D NAND架构及工作原理动画演示
2024-09-12 10:18:04
该视频提供了有关SSD中闪存存储单元(Flash Memory Cells)的详细说明,尤其是3D NAND架构及其工作原理。
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1. 闪存单元基础原理

  • 闪存单元的组成:一个基本的电荷闪存单元由栅极、电荷陷阱和通道三个主要部分组成。这些部分被介电材料分隔,防止电子在其间流动。

  • 信息存储方式:电荷陷阱中存储着电子,如果陷阱中有电子,代表存储的是“0”,如果没有电子,则表示“1”。

  • 信息读取机制:栅极上施加的电压决定通道是否导通。若栅极电压超过阈值电压,通道打开,电子流过,从而读取信息。

  • 阈值电压:这是控制通道开启的最小电压。阈值电压的改变由电荷陷阱中的电子数量决定,这种变化可用于存储不同的二进制信息。

2. 3D NAND架构

  • 3D NAND的构造:在智能手机、电脑和平板电脑等设备中,闪存单元排列成数亿个柱状结构,这些存储单元堆叠在一起,形成了三维结构,称为3D NAND。

  • 柱状结构:每个存储单元通过垂直柱状方式制造,其内部有电荷陷阱和介电材料,通过控制栅极电压,可以使通道导通或关闭。

3. 提高存储容量

  • 从存储一位到三位:传统的电荷陷阱单元一次只能存储一位信息,但通过改变电荷陷阱中的电子数量,研究人员可以将每个单元存储的位数从1位提升到3位(即从存储“0”或“1”增加到存储“0”到“7”的值)。这种技术被称为三级单元(TLC,Triple-Level Cell),它允许单元存储多个电荷水平,从而存储更多信息。

  • 电子数量与阈值电压的关系:每个电荷陷阱的电子数量决定了其对应的阈值电压。通过施加不同的电压,系统可以读取出每个存储单元的具体值,从而实现多位信息的存储。

4. 信息读取与写入

  • 读取过程:存储单元的读取过程是通过逐渐增加施加在栅极上的电压,检测通道是否导通来完成的。每个存储单元的阈值电压不同,通过对比通道导通时的电压,可以读取存储的二进制值。

  • 写入过程:写入信息的过程涉及量子力学,通过改变材料的电子分布,将电子注入或移除电荷陷阱,从而改变存储的信息。

5. Kioxia固态硬盘的优势

  • Kioxia的贡献:Kioxia公司是NAND闪存技术的发明者,其企业级SSD使用了自主设计的控制器、固件和TLC 3D NAND技术。这些SSD具有高容量(如30TB)和极高的读写性能与可靠性。

  • TLC技术:三级单元(TLC)允许每个存储单元存储三个比特,从而提高了存储容量。通过精确控制每个单元内的电压水平,SSD可以快速存储和读取大量数据。

6. 未来挑战与发展

  • 如何提升效率:虽然当前技术已经能通过控制电压在单个闪存单元中存储更多的信息,但如何进一步提升存储密度和提高读写速度仍然是工程领域的重大挑战。

  • 量子力学应用:存储单元的写入依赖于量子隧穿效应,这涉及到亚原子层面的物理现象。在未来,可能会有更多的量子力学原理应用到存储设备中。

总的来说,该高清视频探讨了电荷陷阱闪存单元的基本原理及其在现代存储设备中的应用,尤其是3D NAND技术如何提升存储容量与性能。通过技术的不断创新和优化,如Kioxia的三级单元闪存技术,现代存储设备的存储密度和性能得到了极大提升,但未来仍面临着进一步提升效率和减少功耗的挑战。
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