在我们的《PCIe5&6,CXL,NVMe,SSD,NAND,DDR5,800GE测试技术和工具白皮书Ver_11.11介绍&下载》发布已经5个月之后，我们最新修订的《PCIe 5.0/6.0, CXL, NVMe, SSD, NAND, DDR5, 800GE 测试技术和工具白皮书 12.0》发布了！

该测试工具白皮书12.0版本根据过去5个月全球业界的技术进展做了大量内容更新，尤其涉及PCIe 6.0相关的技术，全文总计1675页，约40万字（字符数~118万），文档大小~186MB，可以供大家日常工作查询参考。

我们后面将会分几期针对该白皮书做更多的介绍，部分更新举例如下，：

• 增加了PCI SIG第二次（2024/10中旬）PCIe Gen6小范围互通测试总结

• 增加了众多PCIe 6.0相关的产品和测试工具介绍，包括：

• SerialTek PCIe 6.0/CXL 3.1协议分析仪、训练器、CTS协议兼容性测试的更多资料

• SanBlaze PCIe 6.0 NVMe SSD测试设备RM6的简单介绍

• SerialCables PCIe 6.0主机卡/Switch、转接卡、转接线缆、延长线等

• Quarch PCIe 6.0 x16插卡热插拔/故障注入模块，PAM治具等

• 增加了2024/7-2025/3上半年Saniffer公众号发表的各种文章和拍摄的高清视频汇总（截至2025/3/12，~87条），点击即可观看
• 增加了HBM Wiki

1. 前言

本文主要介绍了PCIe Gen 5.0/6.0、CXL、NVMe/NVMoF、SSD、NAND、DDR5等技术的测试工具和方法，旨在为从事计算、网络、存储、AI、ML/DL、大数据等领域的工程师提供全面的测试解决方案。随着PCIe Gen 6和CXL 3.0产品的逐步推出，测试工具的需求也日益增加。本文详细介绍了全球各大知名芯片设计和系统集成公司广泛使用的测试工具，涵盖了从协议分析、故障注入、热插拔测试到电压拉偏、功耗测试等多个方面。

2. PCIe/CXL Gen 4/5/6 协议分析

本章节详细介绍了PCIe Gen 4/5/6协议分析的技术挑战，包括信号问题、解码速度等难点。SerialTek的PCIe Gen 4/5/6协议分析仪具有高保真信号、超快解码、极速存储等创新功能，支持远程分析和实时监控。此外，还介绍了CXL 3.0的最新进展及其在数据中心中的应用。

3. PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD 性能/功能测试

本章节重点介绍了SanBlaze公司的PCIe 6.0的RM6以及PCIe 5.0的RM5、DT5等测试设备，这些设备支持NVMe SSD的性能和功能测试，涵盖了18大类测试和1400+多个测试用例。SanBlaze的测试系统支持VDM、ZNS、SRIS、TCG、SPDM、FDP、OCP DSSD、SR-IOV、Dual Port、CMB/HMB/T10 DIF_DIX等功能的测试，并提供了详细的测试报告。

4. PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD 故障注入/热插拔和电压拉偏/功耗测试

本章节介绍了Quarch的热插拔和故障注入模块，支持PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD的热插拔测试和底层故障注入。Quarch的PPM（可编程电源模块）和PAM（电源分析模块）提供了电压拉偏和功耗测量的解决方案，适用于SSD、GPU、AI卡等设备的功耗测试。

5. PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD 测试环境搭建一: Switch/Retimer/盘柜/转接/延长线

本章节详细介绍了构建PCIe Gen 5/6测试环境所需的各类产品，包括Switch卡、Retimer卡、转接卡、延长线等。还介绍了基于Broadcom和Microchip Switch的Host Card，以及PCIe Gen 5/6 JBOF测试盘柜的连接示意图和CLI管理接口。

6. PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD 测试环境搭建二: 主机和端口扩展

本章节介绍了PCIe Gen 5测试主机和SSD的选择，包括Intel和AMD架构的平台。还详细介绍了PCIe Gen 5 SSD的RAID解决方案，以及M.2、U.2等接口的扩展方案。此外，还介绍了搭建CXL测试环境所需的设备和工具。

7. NAND 和 DDR5 测试工具和夹具

本章节介绍了NAND特性分析设备、新型闪存技术（MRAM, ReRAM, FeRAM，PCM，改进NOR技术等）研发测试平台TestMesh系列、NAND协议分析仪、NAND颗粒筛选和Burn-In测试设备等。还详细介绍了DDR5/LPDDR5协议分析仪和ATE/SLT测试设备，适用于DDR5 RDIMM、UDIMM等产品的研发测试。

8. SSD 批量测试/RDT/高低温测试方案

本章节介绍了PCIe Gen 5企业级SSD的批量测试硬件和专用测试温箱，包括P41000、BI120A等老化测试平台。还介绍了基于FPGA和X86 CPU的测试温箱，以及Thermojet快速高低温气流温度冲击系统和Peltier高低温测试模组。

9. UFS 4.0, eMMC, I3C 协议测试和 800G/1.6T 光模块测试

本章节介绍了UFS 4.0协议分析仪、I3C/I2C协议分析仪、TestMetrix VTE7100/UFS测试系统等。还详细介绍了UFS 3.1/4.0和eMMC 5.1的开发测试平台，以及800G/1.6T光模块的测试方案。

10. 附录 A: PCIe 和 NVMe 协议基础知识

本章节提供了PCIe、NVMe、CXL、DDR、UFS、NAND、HBM协议的Wiki介绍，涵盖了协议的历史、架构、应用场景等。还详细介绍了PCIe和NVMe的初始化过程，以及蛋蛋读NVMe系列和阿呆实战NVMe系列的实战经验分享。

11. 附录 B: SSD/服务器/存储测试转接卡以及延长线等夹具速查手册

本章节提供了PCIe Gen 5转接卡、适配卡、转接线、延长线等夹具的速查手册，涵盖了U.2、M.2、EDSFF等接口的适配器和线缆。还介绍了PCIe Gen 5主机卡、Switch卡、Retimer卡等产品的详细信息。

12. 附录 C: Quarch测试工具速查手册

本章节详细介绍了Quarch的热插拔和故障注入工具、电压拉偏功耗测量工具、物理层切换设备等。还提供了Quarch Power Studio（QPS）的管理软件和自动化选项，适用于SSD、GPU、AI卡等设备的功耗测试和分析。

13. 附录 D: PCIe Gen 4/5/6 测试工具定制开发

本章节介绍了PCIe Gen 4/5/6测试工具的定制开发，涵盖了协议分析仪、故障注入模块、热插拔模块等产品的定制开发流程和案例。

14. 附录 E: PCIe Gen 4/5/6 互操作性和兼容性测试夹具

本章节介绍了PCIe Gen 4/5/6互操作性和兼容性测试夹具的设计和应用，涵盖了不同接口和协议的兼容性测试方案。

15. 附录 F: PCIe 5.0 协议诊断、分析、测试常用工具和经验分享及 CXL 技术研讨

本章节分享了PCIe 5.0协议诊断、分析和测试的常用工具和经验，还介绍了CXL 1.1/2.0/3.0技术研讨会的PPT内容，以及R&S罗德与施瓦茨公司VNA测试PCIe Gen 5延长线缆信号质量的案例。

16. 附录 G: 针对 Gen5 M.2 SSD 和超薄笔记本散热的新方案

本章节介绍了针对Gen5 M.2 SSD和超薄笔记本散热的新方案，包括OWC使用Mini冷却器开发的32TB和64TB SSD设备，以及Mini冷却器风扇在MacBook Air中的应用。

17. 附录 H: AI 大模型训练/推理基础原理和底层硬件兼容性、稳定性诊断、分析和测试介绍

本章节详细介绍了AI大模型训练和推理的基础原理，以及底层硬件的兼容性、稳定性诊断、分析和测试工具。还分享了SerialTek PCIe协议分析仪和Quarch工具在AI训练和推理过程中的典型问题分析和解决方案。

白皮书总结

本文全面介绍了PCIe Gen 5.0/6.0、CXL、NVMe/NVMoF、SSD、NAND、DDR5等技术的测试工具和方法，涵盖了从协议分析、故障注入、热插拔测试到电压拉偏、功耗测试等多个方面。通过详细的目录结构和内容描述，本文为从事相关领域的工程师提供了全面的测试解决方案和工具参考。

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