PCIe 6.x Protocol Pre-FYI Workshop刚结束2周,同时结合我们最近的一次技术交流,今天来聊聊当前这个时间PCIe与CXL生态的最新进展、测试环境搭建及关键设备选型等等,涵盖从芯片、主控到服务器平台的全链路挑战与应对策略,并对主流分析工具和验证方案进行了深入分析,我们只聊核心大家关注的内容。当然,这里面提到的很多内容我们Saniffer之前也有拍摄过高清视频做过介绍,可以查询相关关键词查找回看。
PCIe 6.0 与 CXL 3.0 发展现状
- PCIe 6.0 推进节奏
- PCIe 6.0 协议基础规范(Base Spec 6.1)于2022年1月11日发布,距今已四年。
- 自2024年6月9日首次小规模互通测试以来,已举办五次官方组织的pre-FYI workshop,第五次于2026年3月底(March 24-27, 2026)完成。 目前根据本次PCIe 6.x Protocol Pre-FYI Workshop的PCIe 6.0协议层Compliance测试数据的各厂家的对比corelation分析,SerialTek是所有工具里面最好的一家。
- 第四次测试(2025年10月27日)中,除参与的其中一家公司外,其余厂商产品间互联互通表现良好。
- 目前仍处于初步阶段,电气合规性(Electrical compliance)与协议层合规性(Protocol layer compliance)规范尚未正式定稿。
- CXL 3.0 发展受阻
- CXL 3.0 优先级非常低,因PCI-SIG将重心放在PCIe 6.0兼容性上,导致CXL相关工作推进缓慢。
- 主流公司发布的PCIe switch目前均不支持CXL switch,一家虽有IP但未推出产品。
- 国内公司也有尝试研发CXL switch IP,短期内难以量产。
服务器与主控芯片供应预期
- 服务器上市时间
- AMD的Zen6服务器原型机已于初步给到各个server OEM/OD研发中心等合作伙伴进行验证。
- 验证周期预计长达一年,主流服务器厂家明确表示在2028年底前无法买到Zen6服务器。
测试环境构建与关键设备
- 核心测试组件
- 在真实CPU服务器缺位的情况下,需依赖Switch卡、Retimer卡、Redriver卡等构建仿真环境。
- Switch卡基于博通芯片,可实现x16上行转为两对PCIe 6.0 x8 MCIO接口,通过Saniffer提供的MCIO X8 to 2* X4 EDSFF female用于连接多块SSD盘。
- Retimer卡用于长距离信号增强,防止因走线过长导致信号劣化;前提是先得有PCIe 6.0链路。
- Saniffer已具备完整的Gen6配套线缆体系,包括延长线、转接线、金手指转接卡等。
- NVMe SSD测试配置
- 典型测试环境可接入8-9块SSD盘,通过轮询方式施加压力,验证每块盘是否能达到99.9%的性能达标率。
- 环境可用于模拟CPU与SSD间的建链过程,支持从Gen1 x4到Gen6 x4的全速率协商测试。
PCIe 6.0分析仪与训练器和SSD测试设备选型
- 主流设备对比
- 市面上主流的针对PCIe 6.0的electrical Tx和Rx测试主要来自是德,协议层的CTS测试主要来自SerialTek/Ellisys等公司
- SerialTek是PCI-SIG官方指定的PCIe 5.0协议层兼容性CTS测试设备。
- SanBlaze是UNH-IOL实验室全面采的针对PCIe 5.0/6.0和NVMe 1.0~2.3 SSD进行NVMe compliance,I2C/I3C带外管理,OCP 1.0a~2.6/2.7,以及NVMe over Fabric认证测试的全球唯一工具。
- SanBlaze 针对SSD研发测试的设备优势
- 内嵌超过2000+个由三星、Intel/Solidigm、Kioxia、SK Hynix、Micron、Marvell、IBM, HPE, Dell,Meta、Microsoft等头部客户贡献的标准或者定制等认证测试用例,开箱即用。
- 支持OCP 2.6规范认证,且是唯一被微软SR-IOV技术授权的硬件平台
- 支持在SanBlaze硬件内部直接登录用户UNH IOL账户,在设备内运行最新的NVMe一致性测试套件(CTS),无需额外维护PC平台。
- 提供故障注入功能,可精确到10纳秒级别,远超同类竞品。
- NVMe-MI带外和带内VDM测试
- ZNS
- SRIS
- TCG
- SPDM
- FDP
- OCP
- SR-IOV
关键物料与信号完整性挑战
- 连接器与接口演进
- PCI SIG在2024年宣布PCIe 6.0仅保留E1、E3两种规格,U.2和M.2已被官方淘汰。
- 在个别终端用户的要求下,安费诺(Amphenol)已开发出Gen6 M.2连接器,SerialTek也已支持,但目前看实际应用有限,国内客户有些表示仍旧对于老旧的M.2 U.2可能存在一定的需求。
- 三星明确表示不会推出Gen6 U.2 SSD产品。
- 信号质量严峻挑战
- 受限于PAM4编码对信噪比的高要求,Gen5/Gen6信号极易劣化。
- 实测显示,某知名服务器PCIe 5.0的U.2背板的PCIe链路上信号每秒发生高达30万次Link Recovery,严重影响性能。 市场上大部分的服务器背板都有类似问题,这种情况只有通过SerialTek PCIe 5.0和6.0协议分析仪的特殊的“信号高保真”的interposer串接在PCIe链路中间才可以发现。
- 使用高质量PCIe 5.0或者6.0 Switch卡后,Link Recovery次数可降至几乎为零,证明中间链路质量至关重要。
- 强烈建议避免使用淘宝、京东采购的廉价转接线,必须选用专业厂商例如Saniffer销售的高品质线缆避免测试浪费时间。
SSD存储对于NAND颗粒测试需求
- SS使用的闪存颗粒特性分析
- 市场上NplusT等针对NAND Flash进行特性测试的专用设备可对BGA152/BGA132/BGA154等封装的NAND颗粒进行老化、高低温、读写干扰等特性测试。
- 通过接触式加热盖板,可精准控制颗粒温度,并实时读取其内部传感器数据,误差小于0.1°C。 下图是NAND颗粒在不同温度下面访问不同page的误码率曲线,大家可以看到差异非常大,所以需要测试。

- 测试发现,随着温度升高,不同访问模式下的误码率曲线差异显著,对ECC算法优化提出更高要求。
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