【交流纪实】低轨卫星上的SSD,不能只靠“赌概率”:一次航天存储测试方案交流复盘
2026-07-14 15:09:47

前端时间我们和一些科研院所做了一些针对低轨卫星的存储可靠性的测试,涉及到SSD 和NAND测试,感兴趣的可以看这里:商业航天狂飙十年,聊聊抗辐射SSD与NAND闪存的地面硬核测试全景。我们最近又和一家该领域的商业公司做了一次针对低轨卫星的SSD存储测试和可靠性验证的技术交流,我觉得很有必要拿出来和大家聊聊,尤其是在国际上以马斯克提出未来太空算力,国内北京在2026年6月也在聚焦星载算力的大背景下。这次交流一开始,并不是从某一台测试设备讲起,而是从一个越来越现实的方向切入:商业航天。

过去我们谈SSD,更多是在数据中心、服务器、AI训练集群、企业级存储阵列里讨论。大家关心的是PCIe 5.0、PCIe 6.0,是NVMe协议一致性,是吞吐量、IOPS、功耗、热插拔、断电保护、固件稳定性。但当SSD进入低轨卫星、星载计算、遥感数据存储这些场景时,问题就不只是“跑得快不快”了。

在太空环境里,存储设备要面对的东西完全不一样:辐射、高低温、震动、单粒子翻转、异常掉电、短时间开机窗口、长期不可维护,以及一旦失效就很难返修的现实。对普通消费类SSD来说,掉盘可能是退货;对数据中心SSD来说,掉盘可能是业务中断;但对星载存储来说,掉盘可能意味着一次在轨任务的数据丢失。

这也是这次沟通最有价值的地方:它把“航天级SSD”这个听起来很远的概念,拆成了几个非常具体的问题——底层NAND到底靠不靠谱?整盘NVMe SSD在极端环境下能不能稳定工作?现有供应商的方案是真正系统性加固,还是更多依赖经验和概率?如果未来要自研航天级SSD,测试体系应该从哪里开始搭?

一、从低轨卫星项目聊起:现在能用,但还谈不上完全可控

交流最开始,双方先聊到一个低轨卫星相关团队目前一直在做星载存储方向,但现阶段还没有完全自研整盘,更多是和外部存储盘厂合作。也就是说,在实际项目中,存储模块可以先用起来,但底层主控、NAND、固件、FTL算法、抗辐射设计、电源管理等关键环节,并不完全掌握在自己手里。

这其实是目前很多商业航天公司的现实状态。

低轨卫星的发展非常快,遥感、通信、太空算力、在轨计算这些应用都需要大量数据存储。卫星拍下来的图像、传感器数据、在轨计算的中间结果,都不可能随时实时回传到地面。很多时候,数据要先存在星上,等到过境窗口或者通信条件允许时再传回来。

这就要求星载存储设备必须稳定。

对方也提到,未来团队有计划自研航天级SSD,因为只靠采购现成模块,短期可以解决“有没有”的问题,但要真正做成长期产品,尤其是面对越来越复杂的低轨卫星任务,就必须逐步掌握自己的测试、设计和验证能力。

这不是简单把一块工业级SSD放进卫星里那么简单。

二、航天存储最难的地方:不是接口,而是环境

接下来,话题很快转到航天环境对存储器件的挑战。

在地面数据中心里,SSD也会面对高温、掉电、热插拔、长时间读写压力,但这些问题都有相对可控的环境。服务器机房有散热系统,有供电冗余,有运维人员,有日志,有替换机制。盘坏了,可以下架、换盘、做失效分析。

卫星上不一样。

低轨卫星虽然距离地面相对近,单次工作窗口可能只有几分钟到十几分钟,看起来不像深空探测器那样长期暴露在极端环境中,但这并不代表风险消失。辐射导致的数据翻转、高低温循环导致的器件参数漂移、发射阶段和在轨运行中的机械应力、电源瞬态异常,都会影响SSD的可靠性。

尤其是NAND Flash本身,它并不是为太空环境天然准备的。

NAND的存储单元本质上依赖电荷状态表示数据。温度变化、长期保持、擦写次数、工艺波动、辐射扰动,都可能改变它的阈值电压分布。地面上可以通过ECC、LDPC、坏块管理、磨损均衡、刷新机制来补偿,但到了太空环境里,这些机制是否仍然足够,就需要重新验证。

这也是为什么在交流中反复提到:航天存储不能只从整盘看,也必须回到闪存颗粒本身去看。

三、从整盘到NAND颗粒:黑盒测试不够,底层特性必须搞清楚

普通用户看SSD,看到的是一个盘:M.2、U.2、U.3、EDSFF,插上去能识别,能读写,跑分正常,就觉得可以了。

但对航天级应用来说,整盘只是最后呈现出来的结果。真正决定可靠性的,是里面的主控、固件、NAND颗粒、电源设计、温度策略、坏块管理和FTL算法。

在这次交流中,发言人结合此前与国内科研院所、高校、企业研发团队的交流经验,提到一个很典型的例子:有企业在使用知名NAND做企业级SSD时,发现封装后的某个Die温度读数异常。盘并没有真正处于高负载状态,室温下也可能出现某个Die温度明显偏高的情况。这个问题到底是Sensor异常、封装问题、颗粒批次差异,还是主控读取机制的问题,如果只看整盘,很难说清楚。

这类问题在商业SSD研发中已经很麻烦,放到航天环境里只会更麻烦。

因为星载SSD的目标不是“多数时候能用”,而是在极端条件下也要尽可能可预测、可解释、可验证。要做到这一点,就不能只靠整盘功能测试。整盘测试告诉你结果,颗粒级测试才有机会告诉你原因。

四、NplusT这类FPGA测试平台的价值:不是便宜,而是灵活

围绕底层NAND测试,交流中重点提到了一类基于FPGA架构的闪存特性分析设备NplusT公司的NanoCycler NAND特性测试工具。

这类设备的思路,和普通量产测试机不一样。量产测试往往追求低成本、高端口数、适合工人操作,测试内容相对固定。研发测试则更看重灵活性:不同厂家的NAND,不同工艺代际,不同接口速度,不同命令特性,不同温度和电压条件,都要能调整。

为什么不用普通主控芯片来做?

因为主控方案有一个天然问题:便宜,但不够灵活。比如用国际、国内一些成熟的SSD主控来搭测试设备,量大时成本很低,但一旦遇到新的NAND特性、新的接口细节、新的测试需求,就要依赖主控厂商修改固件。对于主控厂商来说,如果你不是超大客户,很难为了一个小批量测试设备去配合深度定制。

这也是过去一些企业尝试用主控芯片做NAND量产测试平台,最后推进困难的重要原因。不是思路完全不对,而是生态关系决定了它不适合复杂研发场景。

FPGA方案贵一些,但好处是可编程、可修改、可扩展。只要硬件资源足够,很多读写时序、命令流程、电压条件、错误注入、数据模型,都可以通过FPGA逻辑和软件配合去实现。对于高校、科研院所、主控研发公司、企业级SSD方案商,尤其是航天这种小批量、高复杂度、高可靠性要求的场景,FPGA平台的价值就体现出来了。

它不是为产线“跑量”而生,而是为研发阶段“看清楚问题”而生。

五、高低温测试:温箱是一种方法,热冲击是另一种方法

谈到航天环境,就绕不开温度。

交流中提到,NAND测试设备可以支持扩展温度测试,温度范围可以覆盖从低温到高温的极端条件。实际做法通常有两类。

第一类是温箱测试。把待测器件放进温箱里,按照设定曲线升温、降温,然后在不同温度点下进行读写、保持、擦除、误码率、阈值漂移等测试。这种方法稳定、标准,但变温速度相对慢。普通温箱一分钟升降几度,快一点的可以到十几度甚至更高,但成本也明显上升。

第二类是热冲击或温冲测试。中科院相关实验室采用过类似方式:测试板采用长板设计,把FPGA控制部分放在外面,只把Socket和NAND颗粒所在的一端放到高低温冲击环境里。这样既可以保护控制电路,又能让被测NAND快速经历温度变化。

这个细节非常重要。

因为航天环境里的温度变化不只是“高温”或“低温”本身,还包括温度变化速度、温度循环次数、局部热应力。很多器件在恒定高温下没问题,但在快速冷热冲击中可能出现焊点、封装、读写窗口、保持特性方面的问题。对于星载存储来说,这类测试不能简单省略。

六、航天级SSD的价格为什么高?因为卖的不是容量,而是可信度

交流中还提到一个很现实的市场情况:当前航天级存储模组的出货量并不大,但单价很高。1TB容量的宇航级存储模块,价格可能达到数万元级别,甚至更高。

很多人第一反应可能是:普通1TB SSD已经很便宜了,为什么星载1TB要贵这么多?

原因不在容量本身,而在可靠性验证、环境适应、批次筛选、加固设计和项目责任。航天级产品通常不是按照消费电子的逻辑定价。它面对的是小批量、长周期、严苛验证、定制化接口、长期供货和高失效代价。

更重要的是,航天项目一旦定型,后面很难频繁变更。航天领域大量系统仍然使用PCIe 3.0甚至更早的接口,并不是他们不知道PCIe 5.0、PCIe 6.0更快,而是系统定型、验证周期、供应链稳定性和任务可靠性决定了升级节奏不可能像商业数据中心那么快。

这也解释了为什么一些老型号系统里会出现“桥接方案”:原系统定型时使用SATA盘,但随着SATA主控和相关器件供应减少,后续不得不通过桥接芯片,例如NVMe Device to SATA Host Bridge芯片,把老的SATA SSD适配到系统接口里。对商业市场来说,这可能显得落后;对航天来说,这叫延续性和兼容性。

七、NVMe整盘验证:航天SSD也绕不开协议和功能完整性

底层NAND要测,整盘SSD也要测。

在交流中,另一类重点工具是面向NVMe SSD的综合验证平台,也就是SanBlaze这类系统。它的定位不是测某一颗NAND,而是把SSD当作完整设备来验证。

这类平台的价值在于测试全面。它可以覆盖NVMe协议不同版本的功能特性,包括命名空间管理、读写一致性、热插拔、断电恢复、功耗状态、上电掉电、错误处理、时钟模式、带外管理等。对于企业级SSD来说,这些都是研发和认证阶段必须严肃面对的问题。

在航天场景里,虽然接口速度不一定追求最新,但整盘功能完整性同样重要。

比如,卫星平台上的SSD在任务过程中发生异常掉电,重新上电后数据是否还能保持一致?如果系统进入低功耗状态,SSD能否正确响应?如果背板时钟条件和普通服务器不一样,SSD能否稳定工作?如果出现链路降速、复位、错误恢复,设备是否会卡死?这些都不是简单跑一个读写压力测试就能发现的。

所以,航天级SSD的测试体系应该分成两层:底层NAND颗粒特性测试解决“介质是否可靠、在极端条件下如何变化”的问题;整盘NVMe验证解决“作为一个SSD设备,协议、功能、恢复机制是否完整”的问题。

只有这两层结合起来,才谈得上真正可控。

八、PCIe 6.0已经在商业市场加速,但航天领域仍以稳为先

交流中也聊到PCIe 6.0的发展趋势。

在AI数据中心的推动下,企业级SSD正在从PCIe 5.0走向PCIe 6.0。原因很直接:AI训练需要更高带宽,服务器CPU、GPU、交换芯片、SSD之间的数据通路都在升级。PCIe 5.0企业级SSD已经可以做到十几GB/s,PCIe 6.0则进一步把吞吐能力推到更高水平。

但航天领域并不会同步跟进。

其实,很多航天相关系统当前仍以PCIe 3.0为主,PCIe 4.0都已经算相对新的应用。这里面不是技术能力的问题,而是应用逻辑不同。商业数据中心追求快速迭代,航天追求长期稳定。商业市场可以每两三年升级一代平台,航天系统可能一个型号验证多年,定型后再用很多年。

因此,对航天SSD来说,不能简单照搬商业SSD的路线。PCIe 6.0是趋势,但航天级存储更需要的是接口可控、系统兼容、长期供货、环境可靠和失效可解释。速度当然重要,但不是唯一指标。

九、现有星载存储方案的短板:不能长期依赖“概率通过”

交流后半段,对方提到一个非常值得注意的判断:现有一些星载存储供应商虽然已经有在轨经验,但很多设计可能仍然不是系统性加固,而是依赖概率。

这句话其实很真实。

商业航天早期为了快速上天,很多东西可以先用起来。只要任务周期不长、开机时间不长、数据量和可靠性要求没有极端严苛,某些模块确实可能通过实际在轨运行证明“能用”。但“能用过几次”不等于“设计逻辑已经完全可解释”。一次任务成功,不代表下一批次、下一个轨道环境、下一个温度循环、下一种NAND颗粒也一定稳定。

真正的航天级SSD,不能只靠运气。

它需要系统性设计:NAND筛选策略、ECC能力、LDPC算法余量、FTL磨损均衡、坏块管理、数据刷新、断电保护、电源冗余、抗辐射策略、固件异常恢复、环境应力测试、长期保持测试、批次一致性管理。这些东西叠加在一起,才构成一个可信的星载存储产品。

这也是为什么对方未来如果要自研航天级SSD,第一步不应该急着画板子、堆接口、做外壳,而应该先建立测试能力。没有测试能力,就无法定义可靠性;无法定义可靠性,就无法真正证明产品比普通工业盘更适合上天。

十、新型存储器:NAND不是唯一答案,但产业化还需要时间

除了NAND Flash,交流最后还聊到ReRAM、PCM、FRAM、MRAM等新型非易失性存储器。

这些新型存储器之所以被航天领域关注,是因为它们在某些指标上非常有吸引力。比如擦写寿命远高于NAND,某些技术路线可以达到10的12次方级别的耐久性。相比之下,普通TLC NAND的擦写寿命通常只有几千次,SLC虽然高很多,也很难和这些新型存储器相比。

对航天应用来说,高耐久性非常诱人。因为在某些在轨计算场景中,数据可能频繁更新,日志、缓存、中间结果、状态数据都会持续写入。如果存储介质本身耐久性更高,FTL和磨损均衡的压力就会小很多。

但新型存储器也有自己的问题。

PCM、ReRAM、MRAM、FRAM各有工艺、成本、容量、速度、可靠性和产业化难点。比如PCM国内有科研积累,但大规模产业化并不容易;MRAM则可能涉及产线兼容和污染控制问题;ReRAM虽然前景好,但从实验室到稳定量产也还有很长距离。

因此,短期内NAND仍然是星载大容量存储的主力。但中长期看,新型存储器很可能会在航天、工业、边缘计算、车载等特殊场景中找到自己的位置。对测试设备来说,这也提出了新的要求:不仅要能测NAND,还要能快速、高效地测试这些新型存储器的耐久性、保持特性、写入窗口和失效模式。

十一、从ODCC到航天:商业存储的失效分析经验可以复用

交流最后还提到ODCC生态中的SSD失效分析需求。

ODCC面向数据中心,和航天场景看起来差别很大。但从底层看,两者有共同点:都需要理解NAND在真实使用后的老化状态。数据中心退役SSD中的NAND,经过长时间写入、擦除、温度波动和业务负载后,会呈现出各种老化特征。把这些闪存样本拿出来,通过意大利NPlusT这类设备做深入分析,可以帮助理解误码率变化、阈值漂移、剩余寿命和不同颗粒批次的差异。

这些经验并不能直接等同于航天环境,但测试方法有复用价值。

商业数据中心提供的是大规模真实使用样本,航天领域提供的是极端环境约束。两边结合起来,就能更好地理解NAND这种介质的边界:在什么条件下可靠,在什么条件下退化,哪些参数最敏感,哪些测试最有预测价值。

这正是测试设备和失效分析的意义。它不是为了写一份漂亮报告,而是帮助研发团队把“感觉可能有风险”变成“我们知道风险在哪里”。

十二、这次交流的真正结论:航天级SSD要从测试体系开始建设

整场交流下来,表面上聊了很多内容:低轨卫星、星载存储、NAND测试、FPGA平台、温冲实验、NVMe验证、PCIe 6.0、UNH-IOL、新型存储、ODCC失效分析。

但归纳起来,核心其实很清楚:

航天级SSD不是把普通SSD换个外壳、换个标签、做几次环境试验就可以了。它必须从底层介质、主控固件、整盘协议、电源管理、环境应力和失效分析几个层面一起建设。

对正在进入商业航天的企业来说,早期可以和已有供应商合作,先解决项目交付问题。但如果未来希望形成自己的核心能力,就必须逐步建立三件事。

第一,掌握NAND颗粒级测试能力。知道不同NAND在高低温、辐射、长期保持、擦写压力下的真实表现。

第二,建立整盘NVMe SSD验证能力。不能只看能否识别、能否读写,还要系统验证协议、异常恢复、功耗、掉电、热插拔、时钟、管理接口等完整功能。

第三,形成自己的失效分析闭环。每一次异常、每一次掉盘、每一次数据错误,都要能追到介质、固件、算法、电源或系统环境,而不是停留在“这批盘可能不太稳定”。

商业航天正在从“能上天”走向“长期可运营”。在这个过程中,星载存储会变得越来越重要。卫星拍下来的图像、在轨计算产生的数据、未来太空算力中心的缓存与存储,都需要更可靠的存储系统支撑。

而可靠性不是喊出来的,也不是供应商承诺出来的。它最终要靠测试数据、失效分析和工程闭环一点点建立起来。

所以,这次交流最值得记住的一句话是:

低轨卫星上的SSD,不能只靠“赌概率”。真正的航天存储,必须从NAND颗粒到NVMe整盘,把每一个关键环节都测清楚。

备注:

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