之前有用户咨询如何针对PCIe插卡进行热插拔测试。一般情况下，PCIe插卡是不支持热插拔的。简单讲，因为插卡的热插拔一般需要下面的四个方面都要支持才可以： 插卡本身要支持热插拔 主板支持热插拔 BIOS设计要支持热插拔 操作系统要支持热插拔 所以，如果一个用户要 在电脑不关机的情况下实现针对PCIe插卡进行插拔替换那么必须要找到一个折中可行的办法和方案采用。为啥有这类需求呢？简单举个场景，例如一家公司作为设备原厂，或者网卡的一个贸易商，对于接收到几万张网卡每一张都要测试一下，咋办呢？正常方法是，电脑上插好网卡，然后开机启动后进入操作系统，调用软件进行读/写压力，然后关机（因为无法进行带电插拔，也就是“热插拔”），这样依次反复，所以你发现开机、关机时间占用了非常多的时间，效率很低。所以，这就催生了在电脑不关机的情况下实现手工拔掉待测卡，然后更换一张新卡进行连续测试问题。 其实，我们在2025/1月份的时候做了一期文章和演示“如何实现PCIe插卡的热插拔”，我记得当时是使用SSD转接成插卡来演示的。今天我们重新演示一下该方法，使用一张PCIe 2.0 x8的网卡。同时我们还将讲述两外两种更方便的方法，总计演示时间11分钟。具体请参见下面的视频以及汇总文字介绍。 我们花费2个小时拍摄了本期视频并处理添加了中文字幕供大家参考,参见下面的视频，如果想看高清视频一定要在电脑上打开上面的视频链接进行观看！如果你觉得这篇文章对你有帮助，也希望帮助到更多人，欢迎分享到朋友圈或者与朋友讨论！ 1. 通过Gen5 switch卡实现直接热插拔方案 要点 说明 核心思路 依靠 PCIe 本身支持的热插拔特性，在主机不断电的前提下直接拔插网卡。 实验设备 • 主板 + 一块  Gen5 ×16 Switch + 延长线 +   DUT待测试卡   • 被测 10 GbE 网卡（Gen2 ×8） 操作流程 1. 正常启动系统，确认网卡枚举。2. 手动拔出网卡 → 系统立即失去设备。3. 再插回网卡 → 设备重新被识别并恢复 Gen2 ×8链路。 优点   • 验证纯热插拔兼容性最快捷。 局限 • 无法细粒度控制电源/Reset  时序。• 拔插必需人工操作，易磨损金手指（建议+延长线）。• 不支持自动化回归测试。 • Gen5 switch卡价格较贵（如果实验室未购买该卡） 2. 定制热插拔掉电卡方案 要点 说明 硬件拓扑 主板 ←→ 定制掉电卡（×16  上/下行）←→ Gen5 ×16 延长线  ←→ DUT (待测试卡，这里采用博通 Switch卡演示)  控制链路 掉电卡 ➜管理模块  ➜ USB ➜ PC (命令行) 工作步骤 1. 下电：拉低 Reset   → 断主电源 12 V → 断辅电 3.3 V   → DUT 指示灯/风扇熄灭，主机端链路降至 Gen1 ×16。   2. 上电：先送 3.3 V 辅电 → 送 12 V 主电 → 拉高 Reset → 链路恢复 Gen5 ×16。 能力特点 • 可独立控制 Reset、主/辅电三路。   • 全部命令行手动下发，不支持脚本自动化。 优势 • 成本低于进口卡；   • 足够覆盖“上/下电 + Link 恢复”核心测试。 不足 • 仅能做电源级控制，无法细分单条差分线；   • 无电压监控、信号毛刺（glitch）等高级功能。 3. Quarch Power Control Card（英国进口） 要点 说明 硬件架构 主板 ←→ Quarch 掉电/信号控制卡 ←→ Gen5 ×16 延长线 ←→ DUT 控制软件 专用 GUI + CLI；支持 Python 脚本、外部 Trigger信号。 掉电/上电流程 类似上述定制热插拔卡：先拉低 PERST# → 断 3.3 V → 断 12 V；上电顺序反之 → 拉高 PERST#。 进阶功能 1. 信号多路分组   (source 0‑8)：可将任意边带/差分线分到不同组，实现独立通断或延迟。   2. Glitch 注入：向选定信号植入毛刺错误。   3. 实时电压监控：Device/Host 各路电压即时报表。   4. 外部触发：示波器或其他设备可触发热插拔/掉电序列。 优缺点 • 功能最丰富，支持自动化回归与复杂失效注入；   • 价格显著高于定制卡，但是提供更多功能，包括故障注入，针脚控制，sideband拉高/拉低等很多丰富测试功能。 4 三方案横向对比 维度 Switch卡实现热插拔 国产掉电卡 Quarch 卡 主要应用 简单兼容性验证 电源时序 & Link 恢复 自动化、精细信号测试 成本 购买switch卡价格较贵 成本有优势 成本较高 控制粒度 仅整卡物理插拔 Reset + 主/辅电 单条信号、glitch、触发 自动化支持 无 命令行，可以编写Python脚本 GUI + CLI + Python 电压监控 无 有电压、电流监控 有 典型链路速度 Gen5 x16 Gen5 ×16 Gen5 ×16 5 结论与建议 功能需求决定选型 仅需确认“设备在热插拔后能否重新枚举并工作” → 直接热插拔即可。 需要可靠、可重复的电源时序测试 → 选 定制热插拔掉电卡，性价比最高。 需要批量脚本化、注入故障、记录电压或与示波器联动 → Quarch 卡不可替代。 测试自动化趋势Quarch方案展示了通过脚本/API 与外部触发信号结合，实现全流程无人值守与数据采集，是未来高端硬件验证的趋势。国产卡若能补足脚本接口，将显著提升竞争力。   成本与效益平衡 在新品研发早期，可先用热插拔 + 定制热插拔卡完成基本验证。 待进入稳定性/边界条件测试阶段，再引入 Quarch 卡进行大规模自动化回归和异常注入，避免高昂设备空置。 通过以上三种方案的配合，实验室可以覆盖从低成本验证到高精度故障注入的全周期掉电／热插拔测试需求。 对于上述内容感兴趣的朋友，可以下载我们4/12最新更新的白皮书12.1版本 - 《PCIe5&6.0, CXL, NVMeNVMoF, SSD, NAND, DDR5, 800GE测试技术和工具白皮书_ver12.1》。今天的视频内容可以参考白皮书4&5章节。 下载链接： https://pan.baidu.com/s/1Ms4ys0dbt66-2HVhFuHbCQ?pwd=yvwg 提取码: yvwg 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe/NVMoF, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请访问：访问www.saniffer.cn / www.saniffer.com 访问我们的相关测试工具和产品；或者添加saniffer公众号留言，致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。  

我们之前拍摄过一期PCIe 5.0 EDSFF延长线，请参照3/4saniffer公众号文章《PCIe 5.0 x4 EDSFF延长线高清视频演示》，当时的视频我们采用PCIe Gen5 x8 EDSFF/AIC转接卡环境。本期的高清视频我们采用PCIe Gen5 switch卡+MCIO/EDSFF female cable形式展现该延长线使用，以及注意事项。 注意： 大部分客户是将该延长线串接在服务器背板EDSFF槽和E3.S SSD中间； PCIe 6.0 EDSFF延长线操作完全一样。 我们花费2个小时拍摄了本期视频并处理添加了中文字幕供大家参考,参见下面的视频，如果想看高清视频一定要在电脑上打开上面的视频链接进行观看！如果你觉得这篇文章对你有帮助，也希望帮助到更多人，欢迎分享到朋友圈或者与朋友讨论！ 视频总结：PCIe Gen5 EDSFF 延长线使用注意事项 本总结根据上述的视频对如何安全、正确地连接 PCIe 5.0 EDSFF 延长线进行了总结。重点强调：务必对齐箭头或 A1 引脚标志，切勿接反，否则可能导致线缆烧毁甚至起火。 一、背景与设备说明 使用环境 字幕中演示了在 AMD Gen5 平台或带有 PCIe Gen5 X16 插槽的环境下，通过 SerialCables 公司的 EDSFF 延长线 来连接 E3.S NVMe SSD。 典型连接结构 主板 / CPU → PCIe Gen5 Switch 卡或转接卡 → EDSFF 延长线 → E3.S NVMe SSD 可能还涉及 E3.S 转金手指等不同形式的转接卡，以及延长线本身的不同长度（0.5 米、1 米等）。     二、连接方式与对齐要求 箭头标记的重要性 延长线或转接卡上一般印有 “A1” 或 “箭头” 标记，用于指示正确的对接方向。 必须保证 “箭头对箭头” 或 “A1 对 A1”，将相同引脚脚位对应相连，否则会出现严重的电气短路。 正反面的区别 部分延长线或转接卡正面明确标注 A1 / 箭头，背面可能无任何标识。 出现此情况时，应使用有箭头标记的一侧作为参考，确保与设备或转接卡端的 A1 / 箭头对应。 具体插接实例 将 Dell EMC 的 E3.S NVMe SSD 正确插入延长线的一端。 另一端则连接到 转接卡 / Switch 卡 上，同样要查看箭头或 A1 标记，逐一对齐。 字幕里演示了： 如果方向相反，插不进去或强行插入会导致 针脚定义错位，进而产生灾难性后果。     三、错误连接的风险 线缆烧毁 / 冒烟 一旦接反，引脚供电位置错误，延长线可能瞬间过载而烧毁，甚至出现冒烟情况。 这不仅会损坏线缆，也可能进一步破坏 SSD、主板或 Switch 卡等设备。 火灾隐患 供电短路导致过热或火花，最严重时会引发火灾风险。 数据中心环境下更应谨慎操作，以免造成安全事故和财产损失。     四、操作与排查建议 事先识别标识 在开始插接前，仔细确认延长线、转接卡、SSD、Switch 卡等所有器件上所标注的 A1、箭头、端口编号 等信息。 充分阅读厂商提供的说明文档和参考示意图。 逐步插接、确认 可以先将 SSD 或转接卡的接口方向与延长线对比，对齐后轻轻插入，若遇阻力异常或无法插入，应立即停手检查。 不要凭借“感觉”或“习惯”去推测正反面。 上电前的最终检查 将所有连接完成后，务必再次目视或对照插口标识，确认 箭头对齐、“A1 对 A1”。 通电时若立刻闻到异味或看到烟，应马上断电排查。 建议使用品牌线材 选择正规厂商（如 SerialCables）生产的 PCIe 5.0 EDSFF 延长线；其标识更清晰，减少误插风险。     五、总结 PCIe Gen5 EDSFF 延长线虽然给高速 SSD 的部署和调试带来了极大灵活性，但其高带宽、高功耗的属性也意味着接反后果极为严重。视频及字幕中不断强调以下要点： 对齐箭头 每一端均需与 A1 / 箭头匹配；反插不但无法正常工作，更会产生严重安全风险。 确认正反面 某些线材或转接卡仅在一面印有标识，务必仔细观察后再插接。 安全第一 接反会导致线缆瞬间短路、冒烟，乃至起火；对人身及设备安全均构成威胁。 若严格遵循这些操作原则，并在上电前仔细检查，对齐标识并确保插接牢固，即可安全享用 PCIe Gen5 EDSFF 延长线所带来的高带宽与灵活布线优势。 对于上述内容感兴趣的朋友，可以下载我们4/12最新更新的白皮书12.1版本 - 《PCIe5&6.0, CXL, NVMeNVMoF, SSD, NAND, DDR5, 800GE测试技术和工具白皮书_ver12.1》。今天的视频内容可以参考白皮书5.7.1章节。 下载链接： https://pan.baidu.com/s/1Ms4ys0dbt66-2HVhFuHbCQ?pwd=yvwg 提取码: yvwg 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe/NVMoF, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请访问：访问www.saniffer.cn / www.saniffer.com 访问我们的相关测试工具和产品；或者添加saniffer公众号留言，致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。  

SerialTek PCIe 6.0 协议分析仪与 Quarch Power Analysis Module（PAM）集成 我们今天的高清视频对 SerialTek PCIe 6.0 协议分析仪集成 Quarch 公司的 PAM（Power Analysis Module）功能，以及其已有功能 - 对边带（Sideband）信号的实时监控与 Trace 抓取的特点进行了详细演示。视频重点如下： 我们花费2个小时拍摄了本期视频并处理添加了中文字幕供大家参考,参见下面的视频，如果想看高清视频一定要在电脑上打开上面的视频链接进行观看！如果你觉得这篇文章对你有帮助，也希望帮助到更多人，欢迎分享到朋友圈或者与朋友讨论！ 一、集成 PAM 模块的主要优势 实时采集电压、电流及功耗数据 分析仪自带的 PAM 能够同步获取 12V、3.3V 等不同电压通道的电压与电流信息，并计算功耗。 在抓取 PCIe Trace（协议包）数据的同时，即可关联并记录相应时刻的电压、电流变化，使工程师能够更轻松地分析系统在不同协议操作阶段的功耗波动情况。   数据在同一 Trace 中呈现，关联度高 在 SerialTek 分析仪的软件界面中，用户可选定采样频率（如 1 ms、8 µs 等）并将 PAM 数据与协议分析的时间轴合并显示。 当捕获到某些特定协议事件或异常时，可在相同时间线上对比功耗、信号波形的变化趋势，快速定位系统级问题。   免去额外硬件测试需求 集成式 PAM 让用户不需要额外使用示波器或独立的功耗测试仪来测量电压、电流；一台分析仪即可同时完成功耗和协议层的调试工作。 这不仅简化测试环境，也有效减少多设备切换时可能带来的同步和数据对齐难题。 二、边带（Sideband）信号实时监控与 Trace 抓取 支持多种关键 Sideband 信号 分析仪可对      PERST、CLKREQ#等常见边带信号进行拉高/拉低状态捕捉，也可对时钟差分信号进行观测。 这些边带信号与主数据链路一样，可以实时进行采集，并在同一软件界面中查看波形及状态变化。   时间轴集中展示 系统上电（Power On）或重启（Reset）时，用户能在一条时间线上同时看到电压/电流上升、边带信号拉高、以及 PCIe 协议链路训练等过程。 通过软件的放大或缩小功能，可以精确对比哪一条边带信号先变动，或在何时出现功耗骤升，从而确定各事件间的先后关系。   问题排查效率提升 当设备在启动或特殊操作过程中出现无法上电、链路不稳定等问题时，通过同时查看      PAM 功耗曲线 与 Sideband 信号       的状态切换，可以快速找出故障点，明显提升问题定位与分析效率。 三、典型使用流程简述 启用 PAM 功能 在分析仪配置界面（Capture Settings）中勾选 Quarch PAM 并设置采样频率。 在进行 PCIe Trace 抓取时，自动记录相同时间轴上的电压、电流信息。   开始数据采集并抓取 Trace 分析仪启动后，即可在主界面看到电压、电流的实时数值变化。 结束抓包后，进入软件提供的 Live Trace 或 Timeline 界面，即可将数据包与功耗波动进行对照、放大、查询。   查看边带信号 在相同界面中，分析仪将      PERST、CLKREQ#、时钟信号       等边带信息以波形或逻辑电平形式呈现。 用户可放大关键时间点查看各信号在上电、复位等过程中的具体变化。   综合分析 观察协议事件（如链路训练、错误恢复）对应的功耗曲线涨落情况。 对比边带信号变化顺序，排查开机或进入某些低功耗模式时的异常。 四、视频演示总结 高集成度： 将 Quarch 的 Power Analysis Module 融合到 SerialTek PCIe 6.0 协议分析仪，使得电压、电流及功耗的实时量测与协议 Trace 抓取同步进行。   完整性强： 在一处集中查看协议数据包、边带信号和功耗变化，分析工程师无需再通过多台仪器、繁琐对比来定位问题。   调试效率提升： 通过实时观察电气/功耗与协议侧事件（包括链路配置、上下电）间的关系，可大幅缩短问题定位与测试迭代时间。 综上所述，SerialTek PCIe 6.0 协议分析仪与 Quarch PAM 的紧密结合，为调试工程师提供了从协议到硬件功耗、sideband边带信号的全方位可视化与分析手段，让 PCIe 设备在高速设计与验证环节中的故障定位和性能优化更加高效、准确。 对于上述内容感兴趣的朋友，可以下载我们4/12最新更新的白皮书12.1版本 - 《PCIe5&6.0, CXL, NVMeNVMoF, SSD, NAND, DDR5, 800GE测试技术和工具白皮书_ver12.1》。今天的视频内容可以参考白皮书2.3.13章节和2.3.10章节。 下载链接： https://pan.baidu.com/s/1Ms4ys0dbt66-2HVhFuHbCQ?pwd=yvwg 提取码: yvwg 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe/NVMoF, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请访问：访问www.saniffer.cn / www.saniffer.com 访问我们的相关测试工具和产品；或者添加saniffer公众号留言，致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。    

自从Saniffer公司于2025/3/18日发布《PCIe 5.0/6.0, CXL, NVMe, SSD, NAND, DDR5等测试技术和工具白皮书 12.0》以来，我们对于该版本白皮书做了不少修订和更新，推出了测试白皮书12.1版本。该版本不仅对于排版进行全部优化更方便读者阅读，同时也增加了很多新章节内容，举例如下： 1.2.1.8.1 截至2025/4月份已经发布的PCIe 6.0相关工具和产品 1.2.1.8.2 PCIe 6.0实验室搭建环境的各色产品来了！ 1.3.3      PCI SIG第三次PCIe 6.X Pre-FYI Workshop(2025.3.24-28) 1.3.8 解锁CXL潜力：服务器内存和性能革命 1.3.8.1 UALink 200G 1.0正式发布：规范、白皮书等文档分享 1.3.8.2 谈谈UEC和UALink是否融合以及协议设计相关的问题 1.5.1 2024/7-2025/4年上半年部分视频汇总（更新到2025/4） 2.3.13 Interposer内嵌Quarch PAM功耗分析功能 2.3.13 Interposer内嵌Quarch PAM功耗分析功能 2.6.1.9.1 Gen5 x16 OCP Interpose组装示意图 4.1.1.1 应如何选择Quarch Gen6热插拔/上下电/故障注入卡？ 9.4.3 LPDDR5/5X, eMMC, UFS, ePOP, eMCP和uMCP测试 以下的总结报告基于《测试技术和工具白皮书12.1》的整体结构和主要内容，按照文档目录顺序整理各章节核心要点，力求逻辑清晰、条理明了。由于文档内容十分庞大，下述总结在每一章节中对关键主题进行提炼和概括，帮助读者快速理解全貌并把握重点。喜欢该白皮书的读者可以直接到本文最底部下载。 本次版本相对于11.11版和12.0版的修订内容 修订重点：在11.11版基础上，进一步补充了PCIe 6.0、CXL 3.0相关最新进展、测试工具更新以及各类高低温批量测试方案等内容，并对部分旧版章节进行了精简或合并。 目标：使读者对新版本比旧版本的更新之处有一个快速总览，包括协议、工具、测试流程和市场动态等方面的改进。 第1章 前言 1.1 AI大模型训练/推理底层硬件诊断和测试 AI训练/推理硬件设备底层技术与协议简介 重点介绍了GPU/网卡/AI加速卡及其在大规模模型训练中的角色。 提到了PCIe总线、CXL以及NVMe等对存储和通信的重要性。 PCIe总线在国产服务器与国产GPU/网卡中的兼容性和稳定性挑战 兼容性、稳定性与可靠性测试十分关键。 提及问题解决与优化的思路，以及测试流程中的实践要点。 1.2 PCIe 5.0/6.0设计和测试带来的挑战 推动PCIe向Gen6发展的因素 数据中心、AI、存储等需求的不断提升使带宽、速度等需求持续上升。 板级布线设计、电源效率、连接器变化，都在给开发和测试带来挑战。 PCIe Gen5与Gen6兼容性与速度变化 Gen6 速率翻倍，信号的调制方式升级（如PAM4）。 需要更加灵活、精准的测试工具和测试环境搭建。 PCIe 6.0测试工具和实验室搭建进展 截至2025年4月，已有部分分析仪、训练器等支持到PCIe 6.0。 实验室搭建需考虑线缆、Retimer、Switch、Interposer等多方面因素。 PCIe Gen5发展回顾 在过去4~5年内的市场普及情况与技术演进。 为Gen6的出现奠定了实际应用和测试的基础。 1.3 PCIe Gen6/CXL协议的最新进展 PCI-SIG对Gen6小范围互通测试的若干次总结 每一次互通测试都涉及若干厂商、测试设备、兼容性问题及修复方案。 为Gen6正式落地提供了实际的互操作性验证数据。 CXL协议与NVMe SSD融合趋势 CXL 3.0 最新动态，各大厂商的产品形态以及在内存扩展、缓存一致性领域的应用。 CXL 与PCIe/NVMe正在形成更紧密的生态融合，尤其是Type 3内存扩展卡市场现状、应用场景。 CXL 3.0进展与服务器内存/性能革命 对最新标准、潜在的带宽与性能提升进行概述。 部分厂商已推出初步商用或实验室阶段的原型产品。 1.4 关于Saniffer开放实验室 实验室概览 ：提供了PCIe/CXL/NVMe等多种协议分析、测试与诊断工具的开放实验环境。 主要设备： PCIe协议分析仪：覆盖Gen3/4/5/6多种速率，支持多条lane（x4、x8、x16）及多种接口形态。 SAS/SATA协议分析仪：12G、6G多代产品。 SSD性能/功能测试设备：聚焦NVMe、SAS，涵盖故障注入、热插拔等多种模块。 电压拉偏、功耗测试模块：实现对SSD等设备长时间监测和功耗分析。 PCIe Gen5测试环境清单：从主机、Host Card、Retimer、转接卡、延长线等硬件到软件测试平台的整体打包方案。 1.5 Saniffer技术讲座和培训视频录像汇总 分年度、分阶段汇总了公司举办或参与的技术培训、产品演示视频及技术讲座。 涵盖PCIe 4/5、NVMe、CXL、AI/ML等热门主题，便于有不同需求的工程师快速检索。 1.6 FMS (The Future of Memory and Storage) 2024总结 全球存储与内存未来发展趋势大会的核心要点：如NAND新技术演进、CXL、PCIe      6.0相关解决方案等。 对参会企业、展示产品、技术讲座作了简要概览。 1.7 关于Saniffer公司 业务范围：涵盖计算、网络、存储以及总线接口（PCIe、CXL、SAS、SATA、DDR、UFS等）的测试解决方案。 强调其与各大国际厂商（如SerialTek、SanBlaze、Quarch等）的合作关系，以及官方认证的中国独家合作伙伴身份。 1.8 联系方式 提供Saniffer上海公司的电话、邮箱等联系方式，用于技术支持或购买咨询。 第2章 PCIe/CXL Gen 4/5/6协议分析 2.1 面临的技术挑战 PCIe协议发展历史 从Gen3到Gen6的速率提升、调制方式改变以及对电气信号完整性的要求越来越高。 PCIe 6.0/CXL 3.0新增特性 PAM4 信号、FLIT模式、L0p低功耗子状态、训练序列更新等。 对分析仪解码速度及分析功能提出更高要求。 协议分析和诊断难点 高速信号的完整性问题。 海量数据解码的实时性和准确性。 边带信号、多种功耗和供电状态的监测。 2.2 ~ 2.3 SerialTek PCIe协议分析仪创新功能 信号高保真、超快解码、极速存储、实时监控Sideband等，能够在捕获大规模Trace数据的同时保持对协议层细节的准确掌握。 远程分析和远程协作：方便分布式团队在线查看Trace、进行问题定位。 基于Widget的小工具：包括LTSSM分析、统计分析、TLP延迟分析、NVMe统计、Flow      Control等，让工程师可快速针对某个问题深入调试。 2.4 ~ 2.5 SerialTek PCIe Gen6/CXL 3.0分析仪/训练器与连接方式 Kodiak系列架构：支持PCIe 6.0和CXL 3.0，通过Web管理界面进行触发和过滤配置。 BusXpert软件：Widget丰富，结合训练器可进行故障复现与调试。 典型连接示例：U.2/U.3、M.2、AIC、E1.S/E1.L/E3.S/E3.L及Cable Interposer，帮助工程师直观搭建分析环境。 2.6 SerialTek PCIe协议分析仪产品硬件 Gen5/Gen4/Gen3协议分析仪Interposer展示：详细拆解各种外形与接口转接方式，对边带信号监控接口也有说明。 顶级专业拉杆箱：便携及防护。 2.7 ~ 2.9 具体产品介绍与第三方评测 Kodiak PCIe Gen5 x16/x4协议分析仪：在多通道高速抓取方面提供高内存深度及快速解码。 Broadcom Gen5 Switch内嵌iTAP功能：通过Broadcom/SerialTek内置分析仪在Switch内部抓取数据。 第三方评测：对Kodiak系列的功能、架构、兼容性、管理方式做了较为全面的测评。 2.10 ~ 2.11 产品单页和使用案例 PCIe/CXL/NVMe协议分析仪单页：快速查看主要性能指标和功能列表。 使用分析仪测试WIFI网卡案例：介绍了如何在A/E Key M.2上运用SerialTek进行协议抓取与分析。 第3章 PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD性能/功能测试 3.1 ~ 3.3 SANBlaze测试系统 RM6/DT5/DT4系列：覆盖Gen6/Gen5/Gen4 SSD测试，支持性能、功能和协议一致性验证。 软件可控硬件特性：可编程电源管理、故障注入脚本，以及大量预封装测试用例（含ZNS、TCG Opal、SPDM、Dual Port、CMB/HMB等）。 3.4 ~ 3.7 测试功能及脚本 SanBlaze Certified：面向企业/数据中心级SSD的测试流程，通过广泛场景验证并输出报告。 VDM/ZNS/SRIS/TCG/双端口/DSSD/CMB/HMB/T10/DIF_DIX测试：针对当下主流及前沿技术特性的覆盖。 与协议分析仪联动：可以在出现问题时由SanBlaze侧自动触发SerialTek分析仪抓取Trace。 3.8 ~ 3.10 新型测试硬件与典型用例 SanBlaze Gen5设备产品单页：介绍端口数量、速率、软件接口等关键指标。 iRiser5专利卡：针对PCIe 5.0在信号控制与测量方面的新功能。 M.2 SSD低功耗L1.2测试：在实际脚本中的配置方法、时序细节，以及如何监测CLKREQ#信号的切换过程。 第4章 PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD故障注入/热插拔和电压拉偏/功耗测试 4.1 ~ 4.3 热插拔与故障注入测试、可编程电源(PPM)与电源分析模块(PAM) Quarch热插拔/故障注入模块：Gen6/Gen5/Gen4多种形态（U.2/U.3、M.2、E1/E3、AIC）与线缆接口，支持自动化脚本控制。 掉电测试：通过上下电循环、高速信号毛刺注入、边带信号控制评估SSD/系统的可靠性。 PPM（Programmable Power Module）：可对电压进行拉偏或编程控制、测试功耗极限值。 PAM（Power Analysis Module）：被动方式精准检测电压、功耗、电流，并分析边带信号。 采样速率设定：测试OCP 100ms或100μs峰值功耗时，对速率需求以及对结果准确度的影响。 4.4 ~ 4.7 各类线缆热插拔、主机掉电和自动化测试 SAS/SATA、SFP28、RJ-45、USB 3.0/3.1、-48V电信供电等多种线缆热插拔：实现多协议测试。 主机自动化掉电工具（智能可编程PDU、小型220V掉电器等）：可做整机级别的异常断电测试。 在CXL测试中的使用：热插拔、故障注入、功耗监测等对CXL设备同样适用。 第5章 PCIe Gen4/5/6 NVMe SSD测试环境搭建（一）：Switch/Retimer/盘柜/转接/延长线 5.1 ~ 5.2 搭建PCIe 6.0与5.0测试环境的必备产品 Switch卡：Broadcom与Microchip两大阵营，提供多端口扩展； Retimer卡：用于延长链路、补偿信号衰减； 各类转接卡、线缆：MCIO、SlimSAS、Oculink等，供不同形态SSD或外设连接。 Passive/Active盘柜：Passive背板仅进行连接转发，Active背板内置Switch芯片，实现更灵活的多盘位管理与CLI配置。 5.3 常见Host/Retimer卡 详细列举了基于Broadcom或Microchip的PCIe 4/5/6架构主机卡，以及如何进行批量测试（如温箱内、大规模上架式测试）。 5.4 ~ 5.7 常用盘柜、转接卡、线缆、延长线 提供了大量实物案例图和CLI管理示例。 Dual Port NVMe SSD 的测试环境搭建方法。 第6章 PCIe Gen4/5/6 NVMe SSD测试环境搭建（二）：主机和端口扩展 6.1 PCIe Gen6 CPU与相关技术进展 Intel Xeon Diamond Rapids 、AMD      Zen 6等下一代服务器CPU均规划支持PCIe      6.0，并搭配CXL 3.0。 部分厂商还在尝试PCIe 6.0的光纤传输方案，用于超远程数据中心通信。 6.2 PCIe Gen5测试主机和Gen5 SSD选择 Intel平台：Gen5 Xeon服务器与Core工作站，Z690、X670E等主板。 AMD平台：Genoa服务器CPU，消费级则有X670E主板。 企业级Gen5 SSD：Kioxia CD8/CM7、Samsung PM1743等；消费级Gen5 SSD：Phison E26主控等，陆续在2023~2024年上市。 6.3 PCIe Gen5 NVMe SSD RAID解决方案 GPU RAID简述：区分于传统软RAID/硬RAID，主要利用GPU并行能力加速RAID计算。 示例：通过软件定义物理盘、驱动器组和虚拟驱动器（VD），实现RAID 5/6等高性能存储阵列。 6.4 M.2/U.2/Slot等扩展卡与批量测试 转接卡：实现AIC与M.2/U.2/U.3、E1.S/E3.S、EDSFF等不同形态之间的灵活对接； 主板及扩展板：x8/x16分割、背板测试环境、大规模测试机架等举例。 6.5 CXL测试环境搭建要点 需要同时准备符合CXL协议的主机、设备（Type 1/2/3）、相应的Switch或Retimer及协议分析仪、故障注入工具等。 第7章 NAND和DDR5测试工具与夹具 7.1 NAND特性分析设备 NplusT Nanocycler：可以进行高强度P/E循环测试、特性分析、温度分布、BER统计、Read Retry研究等； BarnieMAT后处理软件：从Icc3、Vt分布、Fail分布等多视角评估NAND品质。 7.2 ~ 7.5 NAND闪存及新型存储（PCM/MRAM/ReRAM）测试平台 TestMesh系列：主打对新型非易失存储器的研究； VNR (Visual NAND Reconstructor)：用于数据恢复和物理层面分析； Burn-In测试设备：8~512槽位规格，用于芯片级别的老化与筛选。 7.6 ~ 7.12 各种NAND/DDR5/LPDDR5/eMMC/Interposer/Sockets NAND BGA152/132夹具 、DDR5/LPDDR5协议分析仪，针对不同封装形式的抓取与调试。 Zero Footprint Sockets：在高速测试中尽量减少额外插损，保证信号完整。 7.13 ATE/SLT测试设备 DDR5/UDIMM/RDIMM 测试平台：对服务器/PC存储条进行自动化测试与筛选。 LPDDR5/4X 多槽位测试系统：一般用于移动设备内存与eMCP/ePOP评估。 第8章 SSD批量测试/RDT/高低温测试方案 8.1 ~ 8.4 PCIe Gen5 SSD批量测试硬件与温箱 P41000、BI120A/BI-003 等老化测试平台； 高低温冲击：ThermoJet气流、Peltier模组等为SSD在极端温度下进行稳定性、寿命检测。 8.5 ~ 8.7 托架、夹具与机架化 协议分析仪专用托架：满足布线与空间散热需求； 机架定制：适合大规模SSD测试实验室建设。 第9章 UFS 4.0、eMMC、I3C协议测试和800G/1.6T光模块测试 9.1 ~ 9.4 UFS与eMMC测试/分析仪 UFS 4.0协议分析仪：符合MIPI规范，支持高速Gear模式； I3C/I2C分析仪：低速控制总线的调试； 定制UFS 3.1& eMMC 5.1开发测试平台：提供电压调节、关键测试点，适配移动和消费电子场景。 9.5 ~ 9.6 800G/1.6T光模块 光通信领域高速模块测试，涵盖协议及误码率分析，紧跟网络设备演进。 第10章 附录 A：PCIe和NVMe协议基础知识 本章为读者提供了从协议基础到进阶应用的参考索引，包括PCIe、NVMe、CXL、DDR、UFS、NAND等在高速互连与存储领域的重要概念。 10.1 PCIe/NVMe/CXL/DDR/UFS/NAND协议Wiki： 对PCIe协议的体系结构、速率演进、外形标准等进行简明扼要的介绍。 NVMe 的主要特征，以及与SAS/SATA在性能与协议架构上的差异。 对CXL在内存扩展、缓存一致性方面的思路进行简要解析。 DDR、UFS、NAND 等对计算设备与移动终端的重要性。 10.6 PCIe热插拔和SR-IOV：对服务器或存储设备在动态扩展时的注意事项进行了较为详细的说明。 10.7 PCIe NVMe SSD各种接口简介：阐明U.2、U.3、M.2等形态的主要差异以及数据中心EDSFF的发展前瞻。 10.8 CXL协议基础： 从CXL 1.0开始到CXL 3.0的演进脉络，包括Flex Bus、DVSEC等核心概念，及对池化、交换机、非易失性内存支持的扩展。 指出CXL与PCIe在物理层上的关联以及CXL在高带宽、低延迟方面的优势。 10.9 PCIe Retimer：对Retimer与Redriver之间的区别，使用场景、信号眼图影响进行分析，对高速链路布局与优化具有重要启示意义。 第11章 附录 B：SSD/服务器/存储测试转接卡以及延长线等夹具速查手册 本章是针对各种PCIe GEN5的转接卡、线缆、主机卡及Retimer/Redriver卡等“硬件夹具”提供速查清单。 11.1 PCIe GEN5转接卡/适配卡：列出U.2、M.2、U.3、EDSFF等多种形态适配器，并简要描述它们在服务器/工作站/测试环境中的功能。 11.2 PCIe GEN5 转接线/延长线：各种MCIO、EDSFF、U.2、SlimSAS等线缆的长度、速率规范，帮助快速搭建测试平台。 11.3~11.5 主机卡/switch card、Retimer/Redriver卡：提供不同厂商的PCIe      Switch/Retimer卡产品，以及CXL type3 Smart Memory Card的示例。 第12章 附录 C：Quarch测试工具速查手册 集中介绍了Quarch在热插拔、物理层故障注入、电源拉偏/功耗测量、物理层自动化切换等多方面的产品和应用场景。 12.1 热插拔和物理层故障注入工具： 从Torridon管理模块、多端口控制模块到支持PCIe Gen5各种接口的热插拔夹具。 也包括RJ-45、USB、光纤等其他协议的插拔模块。 12.2 电压拉偏与功耗测量（PPM）： 提供对电压及功耗进行可编程调控的产品，可在SSD或其他设备上进行极限功耗及可靠性测试。 介绍了QPS管理软件在批量管理PPM方面的图形界面。 12.3 物理层自动化切换设备： 允许工程师在复杂网络或存储拓扑中通过切换设备来替代手动插拔。 12.4 Quarch功耗测试/分析速查： 总结了DC、GPU/AI、AC等多种功耗分析场景，以及多通道治具、自动化脚本接口等特点。 第13章 附录 D：PCIe Gen 4/5/6 测试工具定制开发 本章节在正文中并未做特别详细阐述，而是强调定制化服务的重要性： 针对某些特殊需求，如特定带宽配置、协议模拟或特定故障注入类型，提供私有化定制。 这些定制工具在越来越多的企业研发测试、自动化部署中发挥关键作用。 第14章 附录 E：PCIe Gen4/5/6互操作性和兼容性测试夹具 此章节主要指出： 对互操作性和兼容性测试而言，需要多种形态的测试夹具与适配器； 提供高保真、低损耗的连接，让各种PCIe设备（如SSD、交换芯片、加速卡）在实验室条件下进行模拟互通测试。 第15章 附录 F：PCIe 5.0协议诊断、分析、测试常用工具和CXL技术研讨 PCIe 5.0协议诊断与分析工具： 包含SerialTek、Teledyne LeCroy、Keysight等业内常用的分析仪品牌，以及相关故障注入与调测手段。 CXL 1.1/2.0/3.0技术研讨会PPT： 概括CXL如何在服务器平台进行内存扩展或缓存一致性管理，以及对AI/ML应用场景带来的潜在变革。 VNA测试PCIe Gen5线缆：阐述罗德与施瓦茨等厂商在矢量网络分析仪(VNA)领域对高频线缆进行S参数测试的方法。 第16章 附录 G：针对Gen5 M.2 SSD和超薄笔记本散热的新方案 聚焦于超薄笔记本/设备在高速SSD等高功耗芯片散热方面的探索： mini冷却器、小型化风扇或固态制冷方案的技术原理与实物拆解展示。 介绍OWC、苹果MacBook Air改装等成功案例；并在此基础上剖析固态散热与气流散热的结合方式。 第17章 附录 H：AI大模型训练/推理的原理及底层硬件兼容性、稳定性测试 这是白皮书最后一章，但其内容非常详细，且与前面“1.1 AI大模型训练/推理底层硬件诊断和测试”篇章呼应。 17.1~17.4 通俗易懂地讲解ChatGPT训练/推理过程： 将大模型训练过程从软件调用栈到底层GPU、CUDA、NCCL库等做了一次分层解析。 强调国产GPU兼容性挑战，比如在CUDA替代方案或国产深度学习框架上可能面临的问题。 17.5~17.6 AI大模型训练和推理对硬件性能的要求： 算力：GPU/NPU/CPU的浮点运算能力； 存储IO：高带宽、低延迟的SSD或其他大容量介质； 网络：多节点训练/推理场景对RDMA或NVLink/InfiniBand的要求； 强调各种测试工具(SerialTek、Quarch、SanBlaze)在定位PCIe或存储瓶颈时的用法。 17.7~17.9 SerialTek与Quarch对大模型典型问题的主动测试： 介绍如何使用协议分析仪抓取GPU与SSD之间的传输细节； 如何利用故障注入模拟某些读写错误或者掉电场景，从而验证系统健壮性。 17.10~17.14 Quarch故障注入模块在AI环境的更多案例： 包括针对SSD的异常断电、对GPU的功耗异常拉偏，或对网络端口的插拔测试。 均旨在在实验室“先发现、先解决”各种极端场景下的问题。 17.15 使用SanBlaze硬件工具测试AI训练硬件： 涵盖功能与性能测试案例，对NVMe SSD的兼容性、最大吞吐量及读写延迟做深入验证。 17.16 PCIe 5.0/6.0协议分析仪在AI训练/推理硬件调试中的价值： 高速链路中Any-to-Any通信（GPU-GPU，GPU-CPU，CPU-SSD，GPU-NIC等）的Trace获取与分析。 快速复现并定位在大规模分布式训练时出现的潜在协议死锁、延时突增或掉线等问题。 17.17 GPU进阶笔记： 对NVIDIA A100、H100、L40S，以及GPU集群组网方式做了深入介绍，分析拓扑带宽瓶颈与测试注意事项，为构建超大规模AI训练平台提供参考。 白皮书总结 《PCIe5&6.0, CXL, NVMeNVMoF, SSD, NAND, DDR5, 800GE测试技术和工具白皮书_ver12.1》系统地阐述了PCIe 5.0/6.0及CXL 3.0等前沿高带宽接口技术的研发、测试、诊断所需的工具与方案。其特点在于： 覆盖面广：从GPU/AI服务器、SSD/NAND、DDR5/LPDDR5到UFS、I3C等全面涵盖； 深度专业：不仅列举了不同协议分析仪、故障注入模块等硬件，而且有大量软件功能、脚本、CLI界面等案例说明； 工具与实践结合：围绕如何搭建Gen5/Gen6测试环境，如何做大规模老化、失效分析、高低温测试，都有极具参考价值的细节。 对于有意在高速互连、存储或AI加速领域从事研发或测试工作的工程师而言，本白皮书既是工具清单，也是实操指南；对于想要快速了解最新PCIe/CXL/NVMe测试趋势的管理层或科研人员，也能从中捕捉前沿动向和行业部署建议。 下载链接： https://pan.baidu.com/s/1Ms4ys0dbt66-2HVhFuHbCQ?pwd=yvwg 提取码: yvwg 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe/NVMoF, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请访问：访问www.saniffer.cn / www.saniffer.com 访问我们的相关测试工具和产品；或者添加saniffer公众号留言，致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。    

该视频是在4/3日发布《PCIe 6.0协议分析仪 + 插卡interposer开箱视频》，以及3/25日发布的《PCIe 6.0协议分析仪和训练器长得啥样？第一视角开箱视频满足你的好奇心！》之后针对SerialTek公司PCIe 6.0协议训练器的单独开箱视频，本期主要针对模拟PCIe 6.0 RC端，相当于模拟了PCIe 6.0 CPU，这涵盖了设备从开箱、安装以及注意事项等核心信息，仅供参考。 我们花了几个小时和老外组织拍摄了本期视频并处理添加了中、英文字幕供大家参考,参见下面的视频，如果想看高清视频记得在电脑上打开下面的视频链接进行观看！如果你觉得这篇文章对你有帮助，也希望帮助到更多人，欢迎分享到朋友圈或者与朋友讨论！ 下面是一份基于上述视频所提炼的内容说明，供参考。 Kodiak PCIe 6.0 分析仪测试仪与 Host Smart Fixture（HSF） 开箱及安装操作报告 1. 背景与目的 Kodiak PCIe 6.0 分析仪测试仪（Analyzer Tester）与 Host Smart Fixture（HSF）是用于测试和分析 PCIe 6.0 信号及设备的专业工具。通过该设备，用户可以完成对 DUT（Device Under Test）的数据捕获、协议分析、时钟与触发管理等工作，从而提升对高带宽、高速传输环境的测试与验证效率。 本总结旨在： 概述开箱流程，帮助使用者快速识别并检查配件及文档。 说明核心部件的功能及布局，避免在后续操作中出现错误连接或不当使用。 引导完成基本连接步骤，确保设备在启动前后处于正确状态。 提供必要的注意事项与拓展建议，帮助使用者更好地维护与排障。 2. 开箱检查 打开包装 在打开设备包装后，首先应看到一份装箱单。务必与订单或试用申请进行核对，确认配件是否齐全。 可以找到设备组装说明或安装手册，为后续连接和安装提供参考。 确认包装内是否含有由 SerialTek 提供的电源模块，只能使用官方指定电源以避免兼容性或安全隐患。   主要配件 Kodiak PCIe 6.0 分析仪测试仪主机 HSF（Host Smart Fixture） SMA 连接线 （适用于时钟和触发信号） USB 线、以太网线 DATA 线与边带信号线（QSFP-DD / MCIO 等） 电源线及电源适配器 若发现有任何配件缺失或与产品说明不符，应及时与供应商或技术支持联系。 3. 设备结构与功能概述 3.1 Host Smart Fixture（HSF） 两侧连接端口：用于连接测试仪和协议分析仪；带有丝印标签以明确方向和用途。 背面接口： SMA 连接器：用于时钟输入和输出信号。 辅助 USB-C 端口：可用于数据传输或辅助功能。 24V DC 电源输入：仅可使用官方提供的电源模块。 系统散热风扇：须保持通风，不得遮挡。 x16 AIC 插槽：用于安装 DUT。此步骤通常在上电前完成。 3.2 分析仪测试仪 背面接口： 电源接口和电源开关：提供设备所需电源输入；使用时需先确保电源开关处于关闭状态，再连接电源线。 SMA 连接器：用于时钟和触发信号。 USB 端口、1G 以太网端口：设备维护及管理使用。 散热风扇：确保通风口畅通，严禁遮挡。   正面接口： 1G 以太网端口：可连接管理网络。 2 个 USB 端口、2 个 Oculink 端口 2 个 10G SFP+ 端口 LCD 屏幕：显示设备序列号、主机名、IP 地址等关键信息。 上行（Upstream）和下行（Downstream）数据线接口 边带（Sideband）信号线接口 顶部通风孔：同样不可遮挡。 4. 安装与连接流程 4.1 基础连线与准备 插入以太网线：将网线插入分析仪测试仪前面板或背面的可用以太网端口，并连至局域网或测试管理设备。 安装 DUT：在对 HSF 供电前，将待测设备（DUT）插入 HSF 的      x16 AIC 插槽。若方向不正确，应重新定位，切勿强行插入。 检查电源连接器方向：在给 HSF 供电时，注意桶形插头上的箭头或平面部分朝向，确保能顺利插入。 4.2 设备上电与系统启动 上电顺序： 确保分析仪测试仪的电源开关处于关闭状态，将电源线连接到设备及 PSU，并确认 PSU 本身已通电。 打开分析仪测试仪电源开关，待 LCD 屏幕亮起并显示设备序列号、IP 地址、链接状态等信息。 HSF  上电时，同样使用官方电源模块，在插口方向正确的前提下轻轻插入电源线，随后开启电源。   观察启动过程： 分析仪测试仪启动后，LCD 屏幕会显示主机名、IP、连接的治具序列号、链路状态以及流量概览。 若连接正常，则可在设备上检验时钟和触发信号的状态。 4.3 数据线及边带信号线连接 QSFP-DD、DATA、MCIO     等线缆：根据丝印标签，连接相应的上行和下行端口。 严格对照安装指南：避免将数据线误插到时钟或触发接口，或在设备未完全断电时擅自插拔。 核对连线牢固度：确保接口外壳完全卡紧，避免后续测试过程中松动。 5. 注意事项与扩展建议 安全与通风 务必保持散热风扇和通风孔畅通，避免积尘或异物堵塞。 切勿在设备带电时拆卸任何外壳或操作高压部件。 电源适配器使用 只能使用随产品附带或由制造商指定的 24V DC 电源模块或 PSU。电压不兼容或品质不合格的电源模块会导致设备损坏或安全事故。 网络管理 若需远程管理设备，建议分配固定 IP 或在 DHCP 中保留地址，方便后续检索及使用。 通过 1G 或 10G 以太网进行数据传输时，应确认交换机或路由器的端口速率匹配，确保带宽与稳定性。 频率及触发设置 （可选高级功能） 对高带宽信号进行分析时，合理设置触发条件和时钟源可提升捕获准确度与数据解析效率。 在复杂环境下可结合逻辑分析仪、示波器等其它测量设备实现多维度协同调试。 环境与温度 建议在室温范围（例如 10℃～35℃）内使用。若在高温或高湿度环境中使用，需格外关注散热，并定期检查风扇与通风孔。 固件与软件更新 厂商有时会推出更新以修复已知问题或提升性能，应定期关注并升级，以保持设备稳定性与兼容性。 6. 常见故障与排查思路（拓展） 设备无法上电 检查电源线、适配器及电源开关状态；确保电压稳定且插头方向正确。 LCD 无法显示信息 确认电源指示灯是否点亮；如确认上电却无屏显，需联系技术支持进行进一步排查。 无法捕获或分析数据 再次核对时钟、触发、数据线连接以及配置软件端口设置。确认 DUT 是否正常工作，及分析仪驱动或软件是否安装。 温度过高或风扇噪音异常 检查风扇是否受到灰尘或异物影响；保持良好散热环境，并确认任何外围设备未阻挡散热通道。 如遇紧急或疑难故障，可通过 sales@saniffer.com 联系官方技术支持。 7. 结语 通过上述步骤可快速完成 Kodiak PCIe 6.0 分析仪测试仪及 HSF 的开箱与基础安装。严格遵循设备说明书与丝印标识，有助于降低误操作风险，并保证高效完成 PCIe 6.0 信号分析与测试。对于需要更深入的高级功能（如协议层数据分析、自动化脚本测试等），建议在熟悉设备基本连接和操作后，再结合厂商提供的软件工具或后续培训文档进行探索。 若有任何疑问或使用需求，可随时联系本文底部的技术支持团队获得进一步帮助。 备注：Saniffer公司发布的针对PCIe 6.0/CXL 3.1的测试工具白皮书的第二章节提供了关于SerialTek PCIe 6.0协议分析仪、训练器和CTS兼容性测试的更多、更详细的内容介绍，感兴趣的朋友可以从下面的链接直接下载。 下载链接： https://pan.baidu.com/s/1niAzLeLnk2cRhRs5eR61kA?pwd=2ica 提取码: 2ica 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe/NVMoF, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请访问：访问www.saniffer.cn / www.saniffer.com 访问我们的相关测试工具和产品；或者添加saniffer公众号留言，致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。    

该视频是在3/25日发布的《PCIe 6.0协议分析仪和训练器长得啥样？第一视角开箱视频满足你的好奇心！》之后针对PCIe 6.0协议分析仪 + 插卡interposer的单独开箱视频，涵盖了设备从开箱、安装以及注意事项等核心信息，仅供参考。 我们花了几个小时和老外组织拍摄了本期视频并处理添加了中、英文字幕供大家参考,参见下面的视频，如果想看高清视频记得在电脑上打开下面的视频链接进行观看！如果你觉得这篇文章对你有帮助，也希望帮助到更多人，欢迎分享到朋友圈或者与朋友讨论！ 一、概述 本视频主要介绍了 Kodiak PCIe 6.0 Analyzer / Tester 与 x16 AIC Interposer 的开箱流程、接口功能以及初步的安装与使用指导。通过此装置，可对 PCIe 6.0 x16 接口进行协议分析与测试。 二、开箱与组件清单 装箱单（Packing List） 随包装附带一份装箱单，请核对其与您的订单或演示需求相符。 x16 AIC Interposer 提供 S0 边带信号连接以及 U0、D0 QSFP-DD 数据线接口。 设备顶部有一个 x16 插槽，用于插入被测设备（DUT）。 Kodiak PCIe 6.0 Analyzer Tester 电源输入及电源开关 多个 SMA 接口（用于时钟与触发信号） USB 与 1G 以太网（维护端口） 系统散热风扇与 PSU 通风口 1G 以太网端口 两个 USB 端口 两个 Oculink 接口 两个 10G SFP+ 接口 LCD 显示屏 上行和下行信号线接口 边带信号线接口 前面板接口： 背面接口： 电源模块 用于给 Interposer 供电的电源适配器（带有电源插头、线缆等）。 三、安装与操作步骤 安装前准备 确保主机或测试用主板 完全断电。 在将 Interposer 安装至主机并确认 DUT 已牢固插入 x16 插槽之前，切勿连接任何电源。 安装 x16 AIC Interposer 将 Interposer 插入主板对应的 PCIe x16 插槽（主板仍保持断电状态）。 Power Brick 先通电，但 不要立即插入 Interposer。 插入 DUT 找到待测设备（DUT），将其插入 Interposer 顶部的 x16 插槽。 注意设备接口方向，不可用力过猛。 连接 Analyzer Tester 将以太网线插入分析仪前面板或后面板可用的 1G 网口。 接通分析仪电源前，先确认电源开关在“关闭”位置，连接电源线后再打开电源开关。 连接数据线和边带线 在分析仪启动过程中，即可逐一连接 QSFP-DD、MCIO 等数据线。 接线时对准丝印标签，切勿强行插入。 Interposer 供电 连接 Interposer 电源时，需注意插头方向，电源插头上的箭头应与 Interposer 正面方向相反。 仅使用官方提供的电源适配器。 LCD 显示与网络设置 分析仪开机后，LCD 显示 序列号、主机名（Host Name）、别名（Alias） 及 IP 地址（若已连接网络或设置静态 IP）。 屏幕右侧会显示当前链路状态及通过 Interposer 的流量信息。 四、注意事项 切勿遮挡散热风扇或通风孔 设备顶部及背部有散热通风口，使用过程中保持通风顺畅。 安装及拆卸时保证断电 在对 Interposer 或 DUT 进行拆装前，务必先断电，避免损坏设备或引发安全风险。 线缆连接 按照设备或线缆上的标签提示连接，对准接口后轻插轻拔，无需过度用力。 使用官方配套设备 请使用厂商提供或认可的电源适配器及线缆，避免使用第三方配件可能造成的不兼容或损坏。 五、技术支持与联系方式 如在设备安装、调试或使用过程中遇到任何疑问或需要进一步协助，请通过以下方式联系官方技术支持： 邮箱：sales@saniffer.com   以上为 Kodiak PCIe 6.0 Analyzer Tester 与 x16 AIC Interposer 的开箱与初步安装指导总结。您在实际使用时可根据自身测试需求做更多配置与调试。若有其他问题，可随时与技术支持部门取得联系，以获得专业帮助。祝您测试顺利！ 备注：Saniffer公司发布的针对PCIe 6.0/CXL 3.1的测试工具白皮书的第二章节提供了关于SerialTek PCIe 6.0协议分析仪、训练器和CTS兼容性测试的更多、更详细的内容介绍，感兴趣的朋友可以从下面的链接直接下载。 下载链接： https://pan.baidu.com/s/1niAzLeLnk2cRhRs5eR61kA?pwd=2ica 提取码: 2ica 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe/NVMoF, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请访问：访问www.saniffer.cn / www.saniffer.com 访问我们的相关测试工具和产品；或者添加saniffer公众号留言，致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。  

今天的高清视频介绍了业内首款同时支持PCIe 6.0 Host和Device的插卡，用于搭建PCIe 6.0的golden测试环境。该卡可使目前从事PCIe 6.0 CPU，Retimer, Switch, endpoint等各类高速芯片开发的公司获得业内首款可商用的PCIe 6.0测试环境。下面是视频简介，具体插卡视频请到本文底部。 我们花费3个小时拍摄了本期视频并处理添加了中、英文字幕供大家参考,参见下面的视频，如果想看高清视频一定要在电脑上打开下面的视频链接进行观看！如果你觉得这篇文章对你有帮助，也希望帮助到更多人，欢迎分享到朋友圈或者与朋友讨论！ 一、背景与现状 随着 PCIe 6.0 标准的逐步确立，业界对相关测试环境的需求也日益增多。相比此前的 PCIe 5.0，6.0 在数据速率、带宽、信号完整性等方面都有明显提升。然而，支持 PCIe 6.0 的主流 CPU 的验证板据估计在2026 年才可能买到，并且只有Tier 1的OEM大厂商才可能买到，大部分厂家估计得等到2027年。这对于正在开发 PCIe 6.0 相关芯片（如 SSD 控制器、GPU、DPU、AI 加速卡以及各种 Endpoint 设备）或希望在研发阶段尽早进行验证测试的厂商而言，便面临“无实机平台可测”的窘境。 因此，能够兼具“模拟 CPU 端（Root Complex）”与“模拟设备端（Endpoint）”的 PCIe 6.0 Switch 卡，就成为短期内搭建测试环境的关键组件。今天我们视频所展示的 PCIe 6.0 Switch 卡，正是当前业内比较少见且可商用的一款产品。 二、PCIe 6.0 Switch 卡的核心作用 填补真 CPU 不足的空白 由于市面上目前尚无可商用的 PCIe 6.0 CPU 或服务器主板，开发 PCIe 6.0       Endpoint（如 SSD、网卡、显卡等）时，无法用真实的 CPU/服务器进行大规模兼容性和性能测试。 这款 Switch 卡可以当作“上游 Root Complex”，为 Endpoint 设备提供一个接近真实环境的对接和链路协商，从而实现对新卡或新芯片的功能与兼容性验证。 测试 CPU（Root Complex）本身 对于正在研发 PCIe 6.0 CPU 或服务器芯片的厂商而言，想测试自己的新 CPU 是否能稳定协商至 PCIe 6.0 速率，却缺少可用的 Endpoint 设备。 这时同样可以用这张 Switch 卡插到 CPU 主板的 PCIe 插槽中，让 Switch 卡扮演“Endpoint”的角色，对 CPU 端进行互联测试、上电下电（Power Cycle）、链接稳定性等验证。 支持多种复杂拓扑与场景 当需要测试 PCIe 6.0 Retimer 或者其他 Switch 时，可通过购买两张      PCIe 6.0 Switch 卡，分别作为“上行”和“下行”设备，并在中间插入想要验证的 Retimer/Switch，配合各种延长线来制造更严苛的信号衰减环境，以考察新器件在不同距离、不同衰减条件下的工作表现。 该 Switch 卡在连接时可通过 MCIO 接口配合多种线缆或转接卡（如 EDSFF、U.2/U.3 等），为 SSD、插卡式设备、甚至研发中的验证板提供多样化的接口支持。 三、主要硬件与配套线缆 PCIe 6.0 MCIO 线缆 MCIO Gen6 x8  是 PCIe 6.0 下常用的一种高速线缆接口，可将 Switch 卡与各种目标设备或转接卡相连。 例如，一根 MCIO x8 转成两个 EDSFF（Female）的线缆可以转接成连接两块 PCIe Gen6 x4 的 E1.S 或 E3.S SSD；或者转为 U.2 接头，用于现有的或过渡时期的 Gen6 SSD测试。 延长线（Riser / Extender） 为了验证信号在长距离或多次衰减后的质量，可以在两张 Switch 卡之间加入延长线。 通过在测试链路中插入若干根延长线，模拟更极端的传输环境，也可结合 Retimer 模块来观察在不同衰减水平下能否仍然稳定协商到 PCIe       6.0 速率。 转接卡与插槽适配 针对不同形态的设备，我们也提供了多种转换卡，如 EDSFF 转标准插卡、EDSFF 转 M.2/U.2、X8 转       X16 等，便于满足多样化的测试需求。 在对 SSD 进行测试时，需额外通过独立电源（例如 SATA 电源接口）供电，因为 MCIO 线缆通常仅传输数据而不负责供电。 四、测试流程与应用示例 测试新一代 Endpoint（设备端） 如果您有一块正在研发或已经支持 PCIe 6.0 的 SSD、网卡、加速卡等，无法获取 PCIe 6.0 CPU 进行对接测试。 可直接将设备插入这张 Switch 卡提供的 x16 插槽，或通过 MCIO-转接卡方式连接 EDSFF/U.2 盘位，Switch 卡则在上行与现有主板上的 CPU 协商（即使 CPU 只能跑到 Gen5，Switch 仍可在下行与目标设备达成 Gen6 速率）。 测试新一代 CPU（主机端） 若正在研发一款支持 PCIe 6.0 的 CPU 芯片/主板，但买不到对应的 Gen6 设备用来验证其 PCIe 6.0 功能。 将 Switch 卡插入 CPU 主板的 PCIe 插槽，让这张卡扮演 Endpoint 的角色，通过重复插拔和多次上电/下电进行大规模稳定性测试；若能稳定协商到 PCIe 6.0 x16，说明 CPU 在协议和物理层面都正常工作。 验证 Retimer 或新 Switch 对于 Retimer、Repeater 或更多第三方 Switch 的研发测试，需要“两端”都有 Gen6 设备。 可用两张 Switch 卡对接，中间插入待测 Retimer 或新 Switch，并配合若干延长线来产生更多衰减，从而评估器件在高速链路中修复、放大信号的能力。 五、白皮书与更多资源 Saniffer近期发布的12.0白皮书包括： 最新 12.0 版白皮书 涵盖了 PCIe 6.0 相关的协议分析仪、训练器、兼容性测试方法、线缆与转接卡产品，以及上述提及的 Switch 卡使用要点。 针对电压、电流、功耗以及边带信号的测量工具也有介绍。 Saniffer 公众号与历史文章 自 2022 年以来，公众号里分享了众多与 PCIe 6.0 技术及产品相关的文章与视频，涵盖从基础原理到实操验证的方方面面。 白皮书中附有在线链接，点击即可查看对应视频或文章，方便技术人员快速了解使用场景与教程。 Saniffer公司与联络方式 若有项目需求或产品采购意向，可以通过文档/公众号所留的联系方式（邮箱、电话、公众号二维码等）与Saniffer沟通获取支持与报价。 六、展望与建议 抓住“空窗期”机会 由于真正能提供 PCIe 6.0 支持的 CPU/服务器平台尚未大规模上市，处在研发阶段的厂商需要尽快搭建先期验证环境。 类似这类 Switch 卡可以帮助团队在正式平台到来前完成绝大部分兼容性、稳定性测试，为今后大规模部署抢占先机。 关注连接器与布线方案 随着速率提升，信号完整性成为关键；包括板载布线、MCIO 与 EDSFF 连接器的选型以及线缆质量等都需要更加严格的测试与认证。 可以从短距离、多段并行衰减、插拔频次等不同角度综合评估产品可靠性。 重视配套软件与协议层调试 除了物理层的速率协商、信号损耗与热设计，协议层的兼容与调试同样关键。 建议搭配使用SerialTek公司PCIe 6.0协议分析仪、训练器等专业仪器，以确保在物理层（PHY）和协议层都能稳定运行。 七、视频总结 PCIe 6.0 的演进代表了高速互连的发展趋势，但在相关 CPU 与整机平台尚未全面上市之前，生态链的各个环节都需要灵活的测试搭建方案。我们提供的PCIe 6.0 Switch 卡便是填补这一空白的有力工具，通过支持模拟根端（RC）与设备端（EP），并可与多种线缆、转接卡、Retimer 测试流程配合，提供了搭建 PCIe 6.0 测试环境的多种可能性。 对于企业或研究机构而言，尽早利用这类产品进行预研与验证，可大幅缩短在日后正式平台上线时的适配周期，在新一代高速互连领域争得先机。 如需更多技术细节或购买信息，可参考最新版白皮书、阅读相关公众号文章或直接联系厂商以获取支持。通过整合硬件、线缆、协议分析等多方面资源，用户能够更好地构建一体化的 PCIe 6.0 测试验证体系，为后续的产品迭代和性能优化奠定坚实基础。 目前Gen6测试工具进度，可持续关注： SerialTek  PCIe6.0/CXL 3.1协议分析仪、训练器、CTS协议兼容性测试套件 SerialCables 目前已发售产品： 即将发布产品： Quarch： PCIe Gen6 x16 插卡控制模块，用于进行热插拔，故障注入测试 PCIe 6.0 EDSFF固态盘热插拔，故障注入模块 PCIe 6.0 EDSFF PAM治具，用于功耗测量和sideband信号记录分析 SanBlaze PCIe 6.0 x4 SSD测试平台，支持测试16块EDSFF SSD 备注：本期内容可以在Saniffer公司发布的针对PCIe 6.0/CXL 3.1的测试工具白皮书的“5.1 构建PCIe 6.0测试环境必备的各类产品“章节看到，感兴趣的朋友可以从下面的链接直接下载。 下载链接： https://pan.baidu.com/s/1niAzLeLnk2cRhRs5eR61kA?pwd=2ica 提取码: 2ica 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe/NVMoF, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请访问：访问www.saniffer.cn / www.saniffer.com 访问我们的相关测试工具和产品；或者添加saniffer公众号留言，致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。