SerialTek公司的PCIe 6.0协议分析仪、训练器和CTS协议兼容性测试软件从2023年底发布以后，由于业界缺乏真正的PCIe 6.0测试环境（Saniffer在3/5/2025发布的“4月份，PCIe Gen6 x16测试环境来了！”是第一款可以在市场上可销售的可以做为PCIe 6.0 Root Complex和End Point的产品），所以很多朋友可能都还没有见过。今天的高清视频从第一视角，通过头顶摄像机直录的方式，让你对于这个价值千万的设备有个直观的、身临其境的体验。 下面的高清视频涵盖 Kodiak PCIe 6.0 HSF（含 Tester和 Analyzer）的开箱流程、设备部件说明、安装与连接要点，如有任何具体疑问或进一步技术支持需求，请参考文章底部联系Saniffer公司专业工程师。 我们花了几个小时和老外组织拍摄了本期视频并处理添加了中、英文字幕供大家参考,参见下面的视频，如果想看高清视频记得在电脑上打开下面的视频链接进行观看！如果你觉得这篇文章对你有帮助，也希望帮助到更多人，欢迎分享到朋友圈或者与朋友讨论！ 一、概述 本次开箱演示主要针对 Kodiak PCIe 6.0 Host Smart Fixture（简称 HSF）及配套的 Tester（业内也称为Exerciser/训练器）、Analyzer 等设备进行介绍。通过阅读该总结，可让您在初次接触此设备时快速了解其开箱流程、安装步骤、连接方式以及使用过程中的注意事项。PCIe 6.0 作为新一代高速接口标准，对测试环境和工具有更高要求，而 SerialTek公司的Kodiak 系列的 PCIe Gen6 Analyzer 和 Tester 正是为满足开发、调试和验证需求而设计的专业级硬件工具。 二、开箱清单与文档 装箱清单 打开包装后，您首先会发现一份装箱清单。请核对实际物品与装箱单上列出的部件是否一致，尤其是检查设备序列号、数量以及是否与订单或演示（Demo）设备请求相符。 若发现与清单不符，请及时与供应商或销售人员联系。 设备组装说明书/安装手册 在包装内还附有一份组装说明书或安装手册，提供了详细的线缆连接指导和重要注意事项。 建议在正式通电之前完整阅读此说明书，并按照其中的步骤进行实际操作，可有效降低出错风险。 三、主要硬件部件简介 本次开箱包含以下关键部件： Host Smart Fixture (HSF) – 用于测试end      point的平台治具 核心功能：为被测设备（DUT）提供插接位以及高速信号路径，方便对 PCIe 6.0 设备（End Point）进行分析和测试。 主要接口： 背面 ：24V 直流电源输入接口（需使用官方电源适配器）、SMA 时钟信号端口、USB-C 辅助端口以及通风风扇。 两侧 ：供 Analyzer 和 Tester 连接的 QSFP-DD 数据端口及 MCIO 边带信号端口。 注意事项： 安装 DUT（如 x16 AIC）时，需要在上电前进行； 插拔电源连接器时切勿暴力施压，如无法顺利插入则应检查方向是否正确（通常箭头或平坦一侧朝下或旋转 180° 远离设备顶部）； 确保风扇和通风口无阻挡。 Analyzer（分析仪） 功能：进行数据捕获、协议分析及各类调试操作。 主要接口： 背面 ：电源输入（附带开关）、SMA 连接器（时钟/触发信号）、USB 维护端口、1Gb 以太网口等。 前面板 ：1Gb 以太网、USB、Oculink       接口、10Gb SFP+、LCD 屏幕，以及针对上行（Upstream）/下行（Downstream）的高速信号端口等。 注意事项： 开机后 LCD 屏幕显示设备序列号、主机名、IP 等信息（若已连接网络或配置静态 IP）； 屏幕右侧会显示当前链路状态及数据流量概况； 连接线缆时务必参阅丝印标记和安装手册。 Tester（测试仪） 功能：主要提供信号发生、自动化测试、压力测试及协议一致性测试等功能。 主要接口与 Analyzer 类似，一般也包括电源输入、以太网口（含USB维护）、SMA 时钟接口及前面板的高速端口等。 在连接 Tester 的数据线和边带信号线时，需要与 Analyzer 及 HSF 配合，确保方向和对应端口无误。 四、详细安装与连接步骤 检查电源与准备工作 请首先确认电源处于关闭状态； 为 HSF 准备随机附带或官方指定的 24V 电源适配器； 如果有多台 Analyzer、Tester，需要逐一核对其电源线、设备标签。 HSF（主机治具）上电前的准备 先将待测试的 DUT（例如 x16 AIC 卡）插入 HSF 对应插槽； 核对电源接口方向：插头的箭头或平坦面应与 HSF 电源插座相吻合； 确保 SMA 和 USB-C 辅助端口若需使用则准备好线缆。 Analyzer 与 Tester 的连接 将 Analyzer/Tester 从包装中取出后，先连好以太网线至其 1Gb      网口（可用于后续维护或网络配置）； 核对电源开关为关闭位置后，连接电源线到 PSU，并合上电源开关； Analyzer  前面板与 Tester 前面板都有若干高速口：根据丝印（如 U0、D0、D1 等）及说明书对应连接 QSFP-DD 数据线，以及 MCIO 边带信号线； 注意 Tester 通常使用 S0（Sideband 0）边带接口以及 D0、D1 数据连接口；而 Analyzer 端会使用 S0 边带、U0、D0 等端口； 若有多台 Tester、Analyzer，重复同样流程，并注意区分不同设备的序列号或主机名。 设备上电与功能确认 打开电源后，LCD 会显示设备序列号、IP 地址及当前连接的治具或 interposer； 观察风扇运转情况，确保通风良好，切勿遮挡设备上方或侧面的散热孔； 确认各根数据线已连接牢固，没有过度弯折或插错接口； 链路建立后，可在 LCD 界面查看链路状态、数据通道信息或流量概况。 五、注意事项与常见问题扩展 电源适配器使用 必须使用官方或原厂提供的电源适配器，若使用第三方电源可能造成电压或电流不稳定，引发测试误差或设备故障。 避免频繁插拔电源，会对内部元器件及信号完整性测试造成影响。 通风与散热 设备顶部、背面和侧面均带有散热孔、系统风扇或电源风扇，务必留出足够空间以保证气流畅通； 在机架或实验室环境中，可考虑额外配备冷却设施，尤其在持续高负载的测试场景下。 线缆连接顺序 与传统的 PCIe 3.0/4.0/5.0 测试平台相比，PCIe 6.0 对线缆质量、布线方法和连接顺序更加敏感，确保严格按照丝印指示连接对应端口； 连接 QSFP-DD 和 MCIO 时，需确认插拔方向，遇到阻力时请先检查接口和线缆而非强行推进。 静态 IP 与网络访问 如果测试环境需要网络远程访问或多设备协同操作，建议在设备启动后通过其 LCD 或配套软件设置静态 IP； 确认网络安全策略，避免因未授权的网络访问而带来数据泄露或干扰测试。 后续软件配置与调试 本文侧重于硬件开箱与物理连接，后续需在配套的软件平台中进行 Analyzer/Tester 功能设置，如协议分析、逻辑触发条件、自定义测试脚本等； 如果遇到链路无法正常建立、速率异常、数据采集中断等问题，需要结合软件日志与硬件指示灯综合判断。 六、结语 通过以上步骤，用户可顺利完成 Kodiak PCIe 6.0 HSF、Tester 及 Analyzer 的开箱、安装与初步连接。此类专业测试设备对高速信号完整性有着严苛要求，在后续使用中需要遵循官方给出的线缆连接规范及安装手册的操作流程。若在实际使用中遇到复杂问题，建议及时联系供应商Saniffer (www.saniffer.cn)寻求专业技术支持。 总而言之，这套 Kodiak PCIe 6.0 解决方案能够帮助工程师们在高带宽、高速率的 PCIe 开发调试阶段高效捕获信号与测试数据，为后期的分析和验证提供可靠依据。如需更多详细的信息或操作指导，请参考随附说明书或官方技术手册。 备注：Saniffer公司发布的针对PCIe 6.0/CXL 3.1的测试工具白皮书的第二章节提供了关于SerialTek PCIe 6.0协议分析仪、训练器和CTS兼容性测试的更多、更详细的内容介绍，感兴趣的朋友可以从下面的链接直接下载。 下载链接： https://pan.baidu.com/s/1niAzLeLnk2cRhRs5eR61kA?pwd=2ica 提取码: 2ica 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe/NVMoF, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请访问：访问www.saniffer.cn / www.saniffer.com 访问我们的相关测试工具和产品；或者添加saniffer公众号留言，致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。    

今天继续昨天的《【白皮书】PCIe/CXL, NVMe, SSD, NAND, DDR5, 800GE测试技术和工具白皮书12.0章节分析(二)》第二部分，将第 8~17 章节做个归纳总结。需要下载的朋友可以直接参考本文底部的百度网盘链接。 第 8 章：SSD 批量测试 / RDT / 高低温测试方案 第 8 章主要介绍针对 SSD 在批量测试、老化 (Burn-In)、高低温以及快速温度冲击测试等方面的解决方案与设备，同时也给出了如何在实验室或大规模生产环境中进行相关测试的思路和可选硬件。 PCIe Gen5 企业级 SSD 批量测试硬件 介绍了目前行业对 PCIe Gen5 企业级 SSD 进行批量测试所需的主要硬件平台，尤其适合 E3.S 和 U.2 规格。对于 M.2 形态，也可依托额外转接扩展来完成批量插拔或老化测试。 强调在批量测试场景下，需要兼顾测试硬件的可扩展性、兼容性以及对不同 SSD 规格（M.2、U.2、E3.S等）的统一支持。 PCIe Gen5 SSD 专用测试温箱 指出行业常用的几类温箱测试平台，包括：      Burn-In 测试平台（如 P41000、BI120A/BI-003 等型号），可进行长时间高/低温老化测试。 桌面测试平台（BI-003/P8100/T400等），适合小批量或研发测试环境。 对温箱的控制方式（基于 FPGA、或基于 x86 CPU + Switch）进行分类，分别介绍其优劣势和常见用途。 温箱专用的 PCIe Gen4/5 SSD 高低温测试背板 介绍了专为温箱环境设计的高低温背板，它们可在高达 85℃或更高温度的环境中稳定工作，并确保信号完整性。 ThermoJet 快速高低温气流温度冲击系统 该系统通过高速气流实现非常快速的温度变化，用于模拟实际工作环境中的温度应力，为排查 SSD 或其他板卡在极端温度变化下的可靠性问题提供可能。 Peltier 高低温测试模组 解释了如何借助 Peltier 半导体制冷/加热组件，为每块 SSD 或插卡单独提供小范围的高低温环境，实现精细化、分块式温控测试。 PCIe Gen4/5/6 SSD 测试托架和机架 协议分析仪托架 + 夹具：方便工程师在高低温或批量测试环境中仍能使用协议分析仪对SSD或插卡进行监测。 定制主板托架：专门为研发或实验室环境设计，便于快速插拔、便于探测信号走线和连接协议分析仪。 SSD 测试实验室机架：机架具备多层插槽、固定架以及通风系统，支持大量 SSD 同时做高低温或老化测试。 这一章的重点在于批量测试和环境应力测试所需的硬件环境和配套方法。对研发和大规模生产部门而言，如何提升 SSD 测试效率、如何在高低温环境下保证信号质量和稳定性，是核心关注点。 第 9 章：UFS 4.0、eMMC、I3C 协议测试和800G/1.6T 光模块测试 第 9 章关注移动/嵌入式存储和超高速光模块测试，包括 UFS 4.0、eMMC、I3C，以及 800G/1.6T 光模块的测试方案。 UFS 4.0 协议分析仪 说明了 UFS（Universal Flash Storage）在移动设备、消费类产品中的应用。 UFS 4.0 在速度、功耗、协议功能上有较大升级，协议分析仪必须支持更高速率、更高精度捕捉。 I3C/I2C 协议分析仪 I3C 是 I2C 的升级版本，用以满足更多传感器设备、低功耗设备的高速通信需求。 说明了常见的移动/嵌入式场景需要的协议分析仪和测试手段。 TestMetrix VTE7100/UFS 测试平台 着重介绍其通用系统资源、程序开发、协议分析器 (PA) 的集成，以及常见的测试用例覆盖范围。 强调其可提供器件限速测试、对 UFS 设备进行深入的协议一致性验证。 定制 eMMC & UFS 3.1/4.0 & LPDDR5 测试设备 提到基于一定平台（或 FPGA / x86）的模块化方案，可定制开发，支持电压调节、引脚关键测试点位保留等功能。 尤其适合手机厂商、移动芯片厂商在研发阶段对 eMMC/UFS/LPDDR5 进行电压拉偏和协议兼容性测试。 800G/1.6T 光模块测试 简要提及了新一代光通信速度达 800G 或 1.6T，介绍常见的测试要点，如插拔可靠性、信号眼图测量、误码率 (BER) 测试等，以及与 PCIe 生态协同的情况（例如服务器中高速互联）。 第 10 章：附录A——PCIe 和 NVMe 协议基础知识 本章是一个协议层面的知识补充，集合了对 PCIe、NVMe、CXL、DDR、UFS、NAND 、HBM等协议的 Wiki 式条目，以及若干初始化过程分析和案例分享。 PCIe / NVMe / CXL / DDR / UFS / NAND 协议     Wiki 概述 列举了各协议的发展历史、版本迭代、基本工作原理、关键特性和应用场景（例如：PCIe 1.0 ~ 6.0、NVMe 基本框架、CXL 的三种子协议、DDR 数代标准变迁、UFS 3.0/4.0 对移动端的性能支撑、NAND 的 2D/3D/Charge Trap 发展等）。 对每种协议给出了在操作系统层支持情况、工具链、对带宽、可靠性需求等方面的关键技术点。 PCIe / NVMe 初始化过程分析 对 PCIe 的链路初始化（Detect → Polling →  Configuration → Recovery → L0）进行详细解释；对 NVMe 如何完成 Admin Queue、Controller Reset，以及主机启动后对 PCIe device 的配置读写等进行梳理。 非常适合开发者或测试工程师理解主机在上电时对设备做了哪些初始化、发送了哪些枚举过程，以及如何分配资源。 “蛋蛋读NVMe” 与 “阿呆实战NVMe” 系列文章 以通俗易懂的方式，从协议、初始化流程、队列管理、指令结构、命名空间等角度，深入剖析了 NVMe 在主机驱动层和设备端如何交互。 如果读者对 NVMe 驱动、协议栈或底层实现感兴趣，这些连载非常具有学习价值。 “蛋蛋读UFS” 系列文章 通过多篇短文形式，展示 UFS 在初始化过程、数据包 (UPIU) 格式、LU (逻辑单元) 分配、RPMB（Replay Protected Memory Block）以及数据安全、电源管理等方面的原理和细节。 PCIe 协议底层杂谈 包含了对 DLLP、TLP、ACK/NAK      机制、MSI-X 中断、SR-IOV、Hot-Plug 热插拔等方面的解析，结合实际抓包例子解释协议数据流、错误处理机制和资源分配。 尤其是 MSI-X、SR-IOV、热插拔等机制，是服务器或高性能存储必不可少的功能点；通过具体示例帮助读者了解 Linux AER 等错误报告框架是如何与硬件交互。 PCIE/NVMe SSD 各种接口简介 对 U.2 / U.3 / M.2 / EDSFF 等形态的差异、机械结构、带宽和使用场景做了系统化归纳。 也包括对 SATA 接口与 NVMe M.2 接口区别的简要说明。 CXL 协议基础 提及 CXL 协议在缓存一致性、内存扩展、设备类型划分 (Type 1/2/3)      方面的关键背景，分析了CXL 使用场景（诸如内存池化、加速卡、SmartNIC 等）。 回顾了 CXL 1.0 ~ 3.1 的版本迭代，以及自 2.0 开始支持交换结构 (Switch) 、池化共享等特性。 PCIe Retimer 基础 解释 Retimer 与 Redriver 的区别，用例场景及信号完整性设计考量，是在高代 PCIe 中常见的重要问题。Retimer 充当“两端完整协商+时钟恢复+重传机制”，而 Redriver 仅做简单模拟放大。 这一章是整份白皮书最核心的“理论基础”部分，为工程师理解后续实际测试或使用工具分析过程奠定了必要的协议、初始化和信号交互常识。 第 11 章：附录 B — SSD / 服务器 / 存储测试转接卡以及延长线等夹具速查手册 本章列举了各种测试转接卡、适配器、延长线、转接线缆以及背板等硬件夹具的规格与速查信息，方便工程师在搭建测试环境时“对号入座”。 PCIe Gen5 转接卡 / 适配卡 包含了 U.2、U.3、M.2、AIC、EDSFF，以及一些常见的 Other Adapters（非标准形态）。对每个转接卡可能的PCIe通道、供电接口、边带信号做了简要标注。 每个适配器都对应合适的转接线缆或背板插座，使用时需注意兼容性和速率要求。 PCIe Gen5 转接线 / 延长线 详细列出了 MCIO、EDSFF、U.2、SlimSAS、以及其他类型连接器的线缆特性：如线缆长度、对 PCIe      5.0 32GT/s 的损耗指标、屏蔽层等。 也包含带 CEM 插槽、弯折型、可插入中继器或 Retimer 之类的线缆方案。 PCIe Gen5 主机卡 / Switch Card / Retimer 提及了常见的 Broadcom / Microchip / Astera 等公司推出的      switch 或 retimer 解决方案，并给出相应产品型号和典型用例（如多通道 SSD 测试/服务器扩展）。 CXL Type3 Smart Memory Card 概述了智能型内存扩展卡在 CXL 协议下的系统框图和典型外形，便于工程师快速了解如何在 CXL 场景下进行内存池化或扩展测试。 该章适合在具体实现测试平台时使用，可直接查询相应转接卡或线缆，以便搭建高带宽、高速测试的硬件配套设施。 第 12 章：附录C——Quarch 测试工具速查手册 本章汇总了 Quarch 公司的各类热插拔和物理层故障注入、可编程电源、功耗测量、切换设备等工具的速查信息，帮助读者快速从产品型录和功能特性中找到所需项目。 热插拔和物理层故障注入工具 概览 Quarch 在 Torridon 管理模块（负责多端口集中控制）、高/低速热插拔模块等方面的产品线，对各种 PCIe 5.0 接口 (U.2、M.2、E1.S/E3.S、AIC等) 提供热插拔+故障注入。 Cable Pull 模块用于自动插拔或故障注入到线缆层面，如      SAS/SATA、USB、以太网、光纤等。 电压拉偏功耗测量 Quarch 的 PPM（Programmable      Power Module）可对电压进行主动调节、注入波动或跌落，用于测试 SSD 或板卡在电源不稳定时的表现。 PAM（Power Analysis Module）则是被动采集电压/电流/功耗等多项信号，可与      PPM 联动或单独使用，查看设备在各种工作负载下的功耗变化。 物理层切换设备 提供 SAS/SATA、USB、PCIe      等自动化切换设备，用于在复杂测试场景中，自动切换通道或远程管理多个设备测试通断。 Quarch Power Studio (QPS) 管理软件 提及其如何对 PPM/PAM/热插拔模块进行统一管理，支持自动脚本、日志记录、GUI 或 CLI 操作等，大幅提高测试自动化程度。 读者可快速了解 Quarch 在测试SSD（或其他高速外设）时的失效模拟、功耗监控等工具支持，这些工具对于做压力测试、异常场景验证（如掉电、线缆松动、供电不稳）非常关键。 第 13 章：附录D——PCIe Gen4/5/6 测试工具定制开发 此章聚焦“定制开发”主题，说明若用户有特殊测试需求（例如多通道同步、特殊协议混合、定制夹具或背板），可以寻找专业团队或自行开发 FPGA/x86 平台以满足特定场景。章节简要介绍了定制化测试工具所需的技术储备和可能实现方式。 第 14 章：附录E——PCIe Gen4/5/6 互操作性和兼容性测试夹具 这里列出了一些专门用于互操作性 / 兼容性 / InterOp 测试的夹具，包括标准组织或业界常用的背板、转接、延长线等，以便在多厂商设备环境中验证 PCIe 各代产品之间能否正常协作（尤其是混合速率、混合链路宽度、跨供应商的场景）。 第 15 章：附录F——PCIe 5.0 协议诊断、分析、测试常用工具和经验分享及 CXL 技术研讨 此章汇总了针对 PCIe 5.0 的一些实战经验和常用工具介绍，同时包含 CXL 技术研讨会的 PPT 概要，及R&S 罗德与施瓦茨公司用矢量网络分析仪 (VNA) 测试 PCIe 5.0 延长线缆信号质量的案例。 PCIe 5.0 协议诊断 / 测试经验分享 针对高代 PCIe 速率下的信号完整性问题、Retimer 配置、调试流程、协议分析仪使用方法等，给出了实际生产和研发场景中的一些经验。 CXL 1.1/2.0/3.0 技术研讨会 PPT 概述 CXL 的最新进展、应用模式和生态合作伙伴；并讨论了其对服务器内存扩展、异构加速以及软件栈的影响。 R&S VNA 测试 PCIe 5.0 延长线缆     说明如何使用矢量网络分析仪测量插损、回损等 S 参数，来评估延长线缆对高频信号的影响。 第 16 章：附录 G — 针对 Gen5 M.2 SSD 和超薄笔记本散热的新方案 第 16 章聚焦于如何在超薄设备或笔记本里，对发热量很大的 Gen5 SSD 进行散热管理。尤其是当传输速度提升到 10GB/s 以上时，M.2 SSD 功耗和热量将大增。 Ultra-thin Cooling 列举了 Mini 冷却器或固态散热模块将 MacBook Air 等超薄笔电变为高效散热设备的尝试，包括拆解、风道、风扇等要点。 OWC 方案：用 Mini 冷却器实现 32TB / 64TB 大容量 SSD 等超高发热量的极限散热。 各种超薄散热器拆解和实验室演示，包括内部风扇或固态散热技术的演化介绍。 对于设计 PC、服务器或移动端高速存储的工程师，这些散热方案可提供散热仿真、风道设计、材料选择等思路。 第 17 章：附录 H — AI 大模型训练 / 推理基础原理和硬件诊断、测试介绍 这是白皮书最后一章，专门探讨大模型（如 ChatGPT）在训练 / 推理时底层硬件、协议栈以及常见故障诊断分析的思路，包括 GPU、NPU、加速卡等硬件在高速互联下如何配合测试工具进行验证。 通俗易懂的 ChatGPT 训练和推理分层架构 解释了其软件栈（Framework、CUDA、GPU 内核等）与硬件层（GPU、网络、存储）的交互，以及在国产 GPU / 网卡场景中面临的兼容性问题。 AI 大模型对硬件性能要求及硬件研发常用诊断工具 提醒读者 GPU 互联（PCIe、NVLink      等）、大容量低延迟存储（NVMe SSD / SmartNIC / DDR5 / CXL      Memory 等）是 AI 训练的关键。 介绍如何借助 SerialTek、SanBlaze、Quarch 等工具完成性能分析、协议故障注入、电压功耗监控，以及掉电测试。 SerialTek PCIe 协议分析仪在大模型训练 / 推理过程中的典型问题分析 举例：链路降速、延迟突增、流控异常导致的 GPU / SSD 性能大幅波动，如何使用协议分析仪快速捕获并定位问题。 Quarch 进行异常插拔、故障注入和电压拉偏的典型场景 如在训练过程引入热插拔 / 突然掉电，或在推理阶段对 SSD 进行功耗限制观察系统反应等，验证系统在极端场景下的鲁棒性。 SanBlaze 工具如何测试 AI 训练和推理硬件功能 / 性能指标 结合前文的 RM5/RM6 测试系统及附带脚本对 NVMe SSD 做协议、功能、兼容性的大规模测试，在 AI 集群中同样适用。 GPU 进阶笔记 提供了对 GPU 服务器硬件拓扑与集群组网等深度资料，并列举一些华为昇腾 GPU /      NVIDIA GH200 等高端 GPU 的发展脉络，为 AI 大模型训练在实际部署时提供参考。 最后一章将“高性能硬件(GPU/SSD) + 协议/诊断工具 + AI 应用场景”结合在一起，让白皮书形成一个完整闭环，从理论、产品、实操到 AI 大模型落地都给出了思路和范例。 总体结论与价值 覆盖面广：整份白皮书涵盖了当前最主流与前沿的高速接口与存储技术，包括 PCIe 5.0/6.0、CXL 3.0、NVMe、NAND、DDR5，以及 800GE 高速网络测试等，深度兼顾了协议原理与测试实践。 工具详尽：文档对于市面上常见的分析仪、故障注入设备、电源功耗测试仪、转接卡与延长线等做了系统梳理；工程师能够迅速对照选型、了解应用场景。 附录扩展：大量附录（A ~ H）详细介绍了协议原理、软件/硬件初始化过程、常见故障场景与“通俗易懂”实践文章，供读者从零开始到高阶应用。 AI 训练/推理的硬件诊断：末尾专门对 AI 大模型在实际运行中如何确保高速互联、大容量存储以及兼容性/稳定性做了技术总结，突显了本白皮书在新兴场景下的应用价值。 综上，本白皮书从技术原理、工具实践、拓扑搭建、案例场景等多角度构建了全面的知识体系，能够帮助研发、测试、系统集成、运维等人员高效地了解和部署 PCIe/CXL/NVMe 等高速总线与存储方案，并在 AI、大数据等前沿应用中保持良好的稳定性和性能可控。 下载链接： https://pan.baidu.com/s/1niAzLeLnk2cRhRs5eR61kA?pwd=2ica 提取码: 2ica 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe/NVMoF, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请访问：www.saniffer.cn / www.saniffer.com 访问我们的相关测试工具和产品；或者添加Saniffer公众号留言，致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。  

由于本次白皮书12.0版本内容较多，我们下面将分成两个部分简单归纳《PCIe5&6.0, CXL, NVMe & NVMoF, SSD, NAND, DDR5, 800GE测试技术和工具白皮书12.0》的每个章节的关键内容供参考。本次针对白皮书第1~7章节。需要下载的朋友可以直接参考本文底部的百度网盘链接。 一、白皮书内容概览 主题说明 本白皮书以PCIe 5.0/6.0、CXL 3.0、NVMe、NVMoF、SSD、NAND、DDR5、以及800GE 的测试技术和相关工具为中心，旨在阐述从高速硬件接口到各类协议分析、故障注入、功耗量测等全方位的研发和测试方法。 内容包含：      PCIe 5.0/6.0 协议分析与调试； CXL 1.1/2.0/3.0 内存扩展/缓存一致性测试； NVMe/NVMoF 性能与功能验证； SSD、NAND、DDR5 各种特性与协议的测试解决方案； 800GE 高速网络的物理层与协议层检测； 各类自动化测试平台、脚本接口以及实验室环境搭建示例。 背景与动机 随着PCIe Gen6 产品研发推进及 CXL 3.0 相关产品逐渐问世（包括芯片、模块、插卡、系统等），未来的数据中心和高性能计算对高速总线 诊断分析与调试提出了新的挑战。 NAND 存储芯片与 DDR5 内存的更新换代使得固态存储和系统内存的测试需求愈加复杂；而      ONFI 5.0 规范、2.4GT NAND 等也给测试工具带来新的要求。 主要覆盖范围 全文针对PCIe Gen5/6 协议层及更高层研发测试所需的分析、诊断、测试工具进行系统阐述，也包含电源管理、故障注入、功耗量测、热插拔、高低温以及批量测试环境搭建等诸多环节。 推荐的工具与解决方案已在全球主要芯片、服务器及系统集成厂商广泛使用，适用于AI、大数据、嵌入式系统、汽车电子 等多场景下的高速总线开发与测试。 二、各章节内容综述 下面按照白皮书的章节顺序，依次概括核心内容和关键技术点。 12.0版本相对于11.11版修订内容一览（第39页） 介绍白皮书在上一版本(11.11版)基础上新增或修改的部分，包括： 针对两次PCI SIG PCIe Gen6 Preliminary Workshop小范围互通测试的概括和总结，让大家对于当前PCIe Gen6的互联互通现状有了直观的认识 增加了众多PCIe 6.0相关的产品和测试工具介绍，包括： SerialTek PCIe 6.0/CXL 3.1协议分析仪、训练器、CTS协议兼容性测试的更多资料 SanBlaze PCIe 6.0 NVMe SSD测试设备RM6的简单介绍 SerialCables PCIe 6.0主机卡/Switch、转接卡、转接线缆、延长线等 Quarch PCIe 6.0 x16插卡热插拔/故障注入模块，PAM治具等 增加了2024/7-2025/3上半年"Saniffer"公众号发表的各类文章和高清视频汇总（~87条），文档内部点击即可观看 增加了HBM Wiki 第一章：前言（第40页开始） 1.1 AI大模型训练/推理底层硬件诊断和测试 1.1.1 AI训练/推理硬件设备底层技术和协议简介 涉及GPU、NPU、DPU及各类SmartNIC所用高速互连与协议，如PCIe/CXL；对AI负载下的带宽与延迟需求有特殊考量。 1.1.2 PCIe总线稳定性在国产服务器+国产GPU/网卡的AI环境中的挑战 1.1.2.1 兼容性测试：对自主研发GPU/网卡与主板的兼容性进行全面验证； 1.1.2.2 稳定性与可靠性测试：大规模并行训练、长时间高负载中PCIe链路的温度、信号完整性； 1.1.2.3 问题解决与优化：调试硬件和固件参数，从协议层抓包定位出错根因； 1.1.2.4 实践中的具体步骤：典型测试流程和国内AI系统环境配置示例。 1.2 PCIe 5.0/6.0设计和测试带给业内的挑战 1.2.1 PCIe Gen5 与 Gen6：您需要了解什么？       1.2.1.1 推动PCIe向Gen6发展的因素：AI/ML、大数据存储带宽需求； 1.2.1.2 速度变化：PCIe 5.0（32GT/s）到6.0（64GT/s）翻倍速率； 1.2.1.3 信号变化、1.2.1.4 电源效率、1.2.1.5 连接器变化 与 1.2.1.6 板级布线挑战； 1.2.1.7 Gen5 与 Gen6的兼容性； 1.2.1.8 Gen6 测试工具和测试环境搭建：介绍满足64GT/s高速捕捉所需硬件设备。 1.2.2 PCIe Gen5在国内的发展回溯和总结 描述过去2~3年里国内在PCIe 5.0测试、量产及推广上所做的工作、现状。 1.3 PCIe Gen6/CXL协议的最新进展（截至2024/8） 1.3.1~1.3.2 PCI SIG两次Gen6小范围互通测试：互通成果与遇到的问题； 1.3.3 PCIe Gen6测试工具进展状况小结； 1.3.4 CXL与NVMe SSD融合：探讨CXL内存扩展卡与SSD在同一高带宽体系下的协同； 1.3.5 CXL协议、CXL 3.0最新进展：分析各大厂在CXL上的布局； 1.3.6 CXL Type 3内存扩展卡市场现状：内存卡形态、扩展柜实物演示、CXL协议解码示例GUI等。 1.4 关于Saniffer开放实验室 介绍该实验室所涵盖的      PCIe协议分析仪（Gen3/4/5/6）、      SAS/SATA协议分析仪、 SSD性能功能测试设备、      热插拔自动化测试设备、 电压拉偏/功耗监测设备 等；并罗列了常见的 主板、Host Card、Retimer Card、转接卡、延长线选择方案和支持的接口类型（AIC、M.2、U.2、U.3、E1.S/E1.L/E3.S/E3.L、MCIO、SlimSAS等）。 说明开放实验室可提供批量测试和培训环境。 1.5 Saniffer技术讲座和培训视频录像汇总 收录了2024~2025年及更早年度的培训与演示视频列表，内容涵盖PCIe、CXL、NVMe、SAS/SATA、SSD故障注入等不同主题。 1.6 FMS 2024（The Future of Memory and     Storage）总结 回顾FMS大会重点：3D NAND、CXL、PCIe 6.0乃至下一代存储产品动向。 1.7 关于Saniffer公司 介绍公司主营技术：计算/网络/存储/消费电子/汽车电子领域的总线技术解决方案； 合作伙伴：与UNH IOL官方认证的SerialTek、SanBlaze、Quarch独家合作等。 1.8 联系Saniffer上海公司 列举详细地址、联系方式和可提供的技术支持范围。 第二章：PCIe/CXL Gen 4/5/6协议分析（第99页起） 2.1 协议分析面临的技术挑战 2.1.1 PCIe协议发展的历史：从Gen1到Gen6的速率提升及主要特性变化； 2.1.2 PCIe Gen6和CXL3.0新增特性：包括1b/1b编码、FLIT模式、L0p低功耗状态、训练序列更新等； 2.1.3 PCIe Gen4/5/6协议分析常见难点：信号问题、解码速度瓶颈等。 2.2 SerialTek PCIe Gen4/5/6协议分析仪的革命性设计（130页） 强调其高保真度、超大缓存、快速解码特点，可针对PCIe/CXL/NVMe等协议进行深度分析。 2.3 SerialTek协议分析创新功能 超快解码、“极速”存储（海量Trace存储）、无需抓取“上电过程”（可自动记录）、基于时间轴的LTSSM分析、远程协作和边带信号回溯等。 2.4 SerialTek PCIe Gen6/CXL 3.0 协议测试系统 介绍Kodiak系列分析仪和训练器架构、BusXpert™应用软件、Filter/Trigger配置、多用户访问，GUI界面展示。 2.5~2.6 协议分析仪连接方式与产品硬件 分析如何通过Interposer连接 U.2/U.3、M.2、E1.S/E1.L/E3.S/E3.L、Cable 等；列举Gen5 x16/ x4 Slot Interposer，Gen4/Gen3 Slot互换情况，以及专业拉杆箱以方便携带仪器。 2.7 SerialTek PCIe Gen5 x16协议分析仪简介 KODIAK™ PCIe Gen5 X16协议分析仪、SI-FI™ 分析板卡(Interposer) 的主要功能与应用场景。 2.8 Broadcom Gen 5 switch 内嵌SerialTek协议分析 iTAP框架及PEA功能简介，在Switch芯片内直接集成协议分析捕捉。 2.9 SerialTek PCIe Gen5 x4协议分析仪第三方评测 设计与兼容性、管理功能等的实际测评结论。 2.10 SerialTek产品单页 包含PCIe Gen6/CXL3.1与Gen5/CXL2.0两种分析仪型号的简要规格。 2.11 如何使用SerialTek PCIe分析仪测试A/E Key的WIFI网卡？ 针对笔记本常见A/E Key插槽之WIFI网卡进行协议抓包的方案解析。 第三章：PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD性能/功能测试（296页） 3.1~3.2 SANBlaze SSD测试系统 RM6（Gen6）与RM5/DT5（Gen5）测试设备的端口配置、软件可控硬件特性，着重NVMe SSD深度测试场景。 3.3~3.5 SANBlaze RM4 & DT4 Gen4测试设备及其重点特性、系统功能 Gen4速率下的多种测试能力，如一致性测试、功能验证、协议兼容等。 3.6 SANBlaze软件功能 3.6.3 NVMe 预封装测试脚本（涵盖18大类1400+用例）； 3.6.4 Certified测试用例集、3.6.7 测试报告等输出实例。 3.7 VDM, ZNS, SRIS, TCG, SPDM, FDP, SR-IOV等专项测试 分别阐述 ZNS (分区命名空间)、 SRIS (独立参考时钟)、 双端口NVMe、CMB/HMB、 T10 DIF/DIX 以及 SPDM 安全协议。 3.10 SANBlaze测试PCIe 5.0 M.2 SSD低功耗L1.2 深入解读其子状态（L1.1/L1.2）及CLKREQ#信号管控，提供CLI命令示例说明如何进行低功耗切换与验证。 第四章：PCIe Gen4/5/6 NVMe SSD故障注入/热插拔和电压拉偏/功耗测试（354页） 4.1 热插拔和故障注入测试 Quarch系列模块对PCIe Gen6 x16、Gen5 x16等不同形态插卡或SSD的热插拔与故障注入支持； 信号毛刺插入、Torridon管理模块等介绍。 4.2 可编程电源PPM – 电压拉偏和功耗测量 Quarch PPM市场上所有接口SSD和插卡，包括产品介绍及脚本化校准，示波器对比优势分析，助力大规模自动化功耗测试。 4.3 电源分析模块PAM 针对市场上所有接口SSD和插卡，以及高功耗GPU/AI卡或AC电源（三相、单相）进行电压电流采集与波形分析； ASPM低功耗下的实时监控。 4.4 各类线缆热插拔/故障注入模块 从24G SAS、OCULINK、USB3.0/3.1 Type-C到-48V DC电信供电、多协议汽车电子总线等，展开全方位自动插拔测试工具介绍。 4.5 测试CXL 1.1/2.0/3.0 需要工具：热插拔、故障注入、功耗分析，以及一些预先构建的测试脚本实例。 4.6 PCIe Gen4/5/6 NVMe SSD掉电测试工具 各种可管理的掉电卡、背板，以及如何利用CLI或API进行自动化掉电测试。 4.7~4.8 针对主机异常掉电的自动化工具、USB Over Network 如智能可编程PDU、小型220V掉电模拟器，让软件脚本可远程触发断电场景； USB Over Network用于远程管理USB设备。 第五章：PCIe Gen4/5/6 NVMe SSD测试环境搭建（一）（512页） 5.1~5.2 构建PCIe 6.0或Gen5测试环境必备产品 包括Switch、Retimer卡、转接卡、延长线等选型建议。 5.3 常用PCIe Gen4/5/6 Host卡和Retimer卡 Broadcom、Microchip SwitchTec等主机卡，如何在SSD大批量测试中发挥作用。 Retimer卡在长距离或信号衰减场景的意义。 5.4 常用PCIe Gen4/5/6 JBOF测试盘柜 Passive/Active类型的盘柜，结合Host Card连接的具体拓扑示意图，以及CLI管理命令。 5.5 常用PCIe Gen4/5/6 转接卡 U.2/U.3/EDSFF/M.2及其他形态示例，Intel演示Lightning Fast 13.8GB/s PCIe 5.0 SSD案例。 5.6~5.7 常用PCIe转接线和延长线 列举MCIO、SlimSAS、OcuLink、SFF-8644、EDSFF/GenZ等多类线缆规格与延长线形态。 5.8 最新PCIe/CXL Gen4/5/6 Switch/Retimer/盘柜/转接/延长线图片分类速查 “新上市产品—2024年”板块，以及Gen6/Gen5/Gen4产品的适配卡或线缆速查表。 5.9 常用PCIe Dual Port NVMe SSD测试环境搭建 双端口SSD在高可用/多路径存储中的部署方式与测试关键点。 第六章：PCIe Gen4/5/6 NVMe SSD测试环境搭建（二）（618页） 6.1 PCIe Gen6 CPU和相关技术进展 Intel Xeon “Diamond Rapids”将支持PCIe Gen6和CXL Gen3，AMD Zen 6文档泄露的更多PCIe 6.0核心信息，乃至光缆传输demo等。 6.2 PCIe Gen5测试主机与Gen5 SSD选择 Intel平台（Z690、Alder Lake等主板）性能及兼容性； AMD平台（Zen4/5、X670E主板）对Gen5 SSD支持。 6.2.3 PCIe Gen5 SSD（企业级和消费类）：如Kioxia      CM7、Samsung PM1743、Phison      E26等测试报告及性能功耗对比。 6.3 PCIe Gen5 NVMe SSD RAID解决方案 介绍GPU RAID、传统软RAID硬RAID的区别及简单创建RAID5逻辑卷步骤。 6.4 PCIe Gen5 SSD测试端口扩展 包括 M.2转AIC卡、U.2扩展卡、Host卡、20端口等扩展板及主板高扩展性示例。 6.5 搭建CXL测试环境需要哪些硬件 简要罗列CXL主控、线缆、热插拔/故障注入工具与协议分析仪的配合使用。 第七章：NAND和DDR5测试工具和夹具（821页） 7.1 NAND特性分析设备 列举多款Nanocycler产品，从6槽位到12槽位高密度，结合BarnieMAT后处理软件可输出BER分布、Fail Count统计等深度指标。 7.2 新型闪存技术研发测试平台TESTMESH 介绍NplusT公司在新型存储（PCM、MRAM、ReRAM、FeRAM）的测试理念； IEEE IMW 2024会议亮点，国内科研院所参与情况等。 7.3 NAND协议分析仪 讲解NAND读写命令、时序协议解析，以及如何捕捉原始总线数据。 7.4 NAND颗粒筛选和Burn-In测试设备 便携式8槽位，生产版240槽位等多种容量的烧录与老化机台。 7.5 NAND数据读取和恢复工具 VNR (Visual NAND Reconstructor) 软件，可对NAND原始数据进行提取和还原，应用于故障分析与数据恢复。 7.6 NAND测试工装和夹具 包含NAND Flash Memory Interposers、152 Ball      Socketed Interposer等，用于示波器抓取和逻辑分析。 7.7 NAND/SSD HAST测试母板 高密度环境下对M.2 NVMe SSD或3D NAND进行湿热老化应力测试的硬件平台。 7.9 DDR5/4, LPDDR5/4和eMMC Interposer 针对不同DRAM或eMMC封装的探针解决方案。 7.12 DDR5/LPDDR5协议分析仪 强调大内存采集与高速采样、支持时序模式眼图； 产品技术指标展示。 7.13 DDR5/LPDDR5 ATE和SLT测试设备 DDR5 RDIMM/UDIMM研发测试平台性能规格，适配产线量产检测需求。 三、整体特点与技术要点 高速总线全面覆盖：包括PCIe 3.0到6.0，以及 CXL 1.1～3.0；对于带宽、信号完整性和协议一致性都有深入探讨。 多场景测试：涵盖协议分析、故障注入、热插拔、电压拉偏、功耗测量、自动化脚本、批量高并发测试、高低温老化等，能满足从研发到量产的各种需求。 SSD及闪存技术深度：对于 NVMe 2.0 以及 ZNS、SPDM、TCG Opal 等高级特性均有章节，NAND层面从Burn-In筛选到新型NVM介绍，资料极其丰富。 工具链丰富： SerialTek：PCIe/CXL协议分析仪BusXpert Kodiak等； SanBlaze：NVMe SSD测试系统RM6/RM5/DT4/DT5系列； Quarch：热插拔与故障注入模块、PPM/PAM功耗设备； NplusT：针对NAND特性的Nanocycler、BarnieMAT后处理分析等。 附录资源完整： 提供了各类CLI命令示例、脚本自动化接口； 培训视频与会议讲座索引； IEEE IMW国际会议摘要； 各种线缆与转接卡、Interposer的图片分类速查表，让读者快速选型。 四、适用人群与价值 硬件/固件研发工程师：在PCIe或CXL主板、SSD、GPU等设计阶段，需要对高速协议进行验证与调试。 存储测试工程师：重点关注NVMe/NVMoF、NAND Flash特性；量产/老化测试如何借助自动化平台实现大批量并行。 服务器制造与集成商：构建从Gen4~Gen6多代兼容环境，对Retimer、Switch、Cable、转接卡进行选型与调试。 AI与HPC领域：确保在高带宽、高负载下实现链路稳定性和可靠性，排查各种兼容与异常。 汽车电子/嵌入式开发者：文中对故障注入、安全协议（SPDM）及高低温环境测试的介绍，也适合车规等级验证。 科研教育机构：可利用其附录资料开展实验教学或深入研究。 五、总结 本白皮书第1~8章节在PCIe/CXL/SSD等高端测试工具和方法领域提供了极其详尽的参考，从基础概念到硬件选型、脚本命令到实际案例，甚至包括高并发产线测试、老化与安全加密的场景说明。1600+页的篇幅覆盖面非常宽，对工程实践与原理探究都有较大帮助。它不仅针对研发阶段的协议分析与故障定位，也涵盖批量量产、老化筛选、安全加密及自动化测试流程等要素，可视为此领域的一份综合性技术指南。 通过细读并结合实践，读者能更快地搭建出Gen5/Gen6或CXL 3.0的测试环境，掌握诸如 NVMe SSD 的多种测试要点（ZNS、SRIS、双端口、功耗、掉电保护等），并熟悉如何在面对高速信号挑战、复杂协议栈和故障注入需求时选择恰当的仪器与平台。对于AI数据中心、新型存储系统或高性能计算等前沿应用而言，该白皮书的案例与工具链指导无疑具有极高的实用价值。 下载链接： https://pan.baidu.com/s/1niAzLeLnk2cRhRs5eR61kA?pwd=2ica 提取码: 2ica 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe/NVMoF, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请访问：www.saniffer.cn / www.saniffer.com 访问我们的相关测试工具和产品；或者添加saniffer公众号留言，致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。  

在我们的《PCIe5&6,CXL,NVMe,SSD,NAND,DDR5,800GE测试技术和工具白皮书Ver_11.11介绍&下载》发布已经5个月之后，我们最新修订的《PCIe 5.0/6.0, CXL, NVMe, SSD, NAND, DDR5, 800GE 测试技术和工具白皮书 12.0》发布了！ 该测试工具白皮书12.0版本根据过去5个月全球业界的技术进展做了大量内容更新，尤其涉及PCIe 6.0相关的技术，全文总计1675页，约40万字（字符数~118万），文档大小~186MB，可以供大家日常工作查询参考。 我们后面将会分几期针对该白皮书做更多的介绍，部分更新举例如下，： 增加了PCI SIG第二次（2024/10中旬）PCIe Gen6小范围互通测试总结 增加了众多PCIe 6.0相关的产品和测试工具介绍，包括： SerialTek PCIe 6.0/CXL 3.1协议分析仪、训练器、CTS协议兼容性测试的更多资料 SanBlaze PCIe 6.0 NVMe SSD测试设备RM6的简单介绍 SerialCables PCIe 6.0主机卡/Switch、转接卡、转接线缆、延长线等 Quarch PCIe 6.0 x16插卡热插拔/故障注入模块，PAM治具等 增加了2024/7-2025/3上半年Saniffer公众号发表的各种文章和拍摄的高清视频汇总（截至2025/3/12，~87条），点击即可观看 增加了HBM Wiki     ... ... 下面是针对该测试工具白皮书12.0版本每章节的内容简介。需要下载的朋友可以直接参考本文底部的百度网盘链接。 1. 前言 本文主要介绍了PCIe Gen 5.0/6.0、CXL、NVMe/NVMoF、SSD、NAND、DDR5等技术的测试工具和方法，旨在为从事计算、网络、存储、AI、ML/DL、大数据等领域的工程师提供全面的测试解决方案。随着PCIe Gen 6和CXL 3.0产品的逐步推出，测试工具的需求也日益增加。本文详细介绍了全球各大知名芯片设计和系统集成公司广泛使用的测试工具，涵盖了从协议分析、故障注入、热插拔测试到电压拉偏、功耗测试等多个方面。 2. PCIe/CXL Gen 4/5/6 协议分析 本章节详细介绍了PCIe Gen 4/5/6协议分析的技术挑战，包括信号问题、解码速度等难点。SerialTek的PCIe Gen 4/5/6协议分析仪具有高保真信号、超快解码、极速存储等创新功能，支持远程分析和实时监控。此外，还介绍了CXL 3.0的最新进展及其在数据中心中的应用。 3. PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD 性能/功能测试 本章节重点介绍了SanBlaze公司的PCIe 6.0的RM6以及PCIe 5.0的RM5、DT5等测试设备，这些设备支持NVMe SSD的性能和功能测试，涵盖了18大类测试和1400+多个测试用例。SanBlaze的测试系统支持VDM、ZNS、SRIS、TCG、SPDM、FDP、OCP DSSD、SR-IOV、Dual Port、CMB/HMB/T10 DIF_DIX等功能的测试，并提供了详细的测试报告。 4. PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD 故障注入/热插拔和电压拉偏/功耗测试 本章节介绍了Quarch的热插拔和故障注入模块，支持PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD的热插拔测试和底层故障注入。Quarch的PPM（可编程电源模块）和PAM（电源分析模块）提供了电压拉偏和功耗测量的解决方案，适用于SSD、GPU、AI卡等设备的功耗测试。 5. PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD 测试环境搭建一: Switch/Retimer/盘柜/转接/延长线 本章节详细介绍了构建PCIe Gen 5/6测试环境所需的各类产品，包括Switch卡、Retimer卡、转接卡、延长线等。还介绍了基于Broadcom和Microchip Switch的Host Card，以及PCIe Gen 5/6 JBOF测试盘柜的连接示意图和CLI管理接口。 6. PCIe Gen 4/5/6 NVMe SSD 测试环境搭建二: 主机和端口扩展 本章节介绍了PCIe Gen 5测试主机和SSD的选择，包括Intel和AMD架构的平台。还详细介绍了PCIe Gen 5 SSD的RAID解决方案，以及M.2、U.2等接口的扩展方案。此外，还介绍了搭建CXL测试环境所需的设备和工具。 7. NAND 和 DDR5 测试工具和夹具 本章节介绍了NAND特性分析设备、新型闪存技术（MRAM, ReRAM, FeRAM，PCM，改进NOR技术等）研发测试平台TestMesh系列、NAND协议分析仪、NAND颗粒筛选和Burn-In测试设备等。还详细介绍了DDR5/LPDDR5协议分析仪和ATE/SLT测试设备，适用于DDR5 RDIMM、UDIMM等产品的研发测试。 8. SSD 批量测试/RDT/高低温测试方案 本章节介绍了PCIe Gen 5企业级SSD的批量测试硬件和专用测试温箱，包括P41000、BI120A等老化测试平台。还介绍了基于FPGA和X86 CPU的测试温箱，以及Thermojet快速高低温气流温度冲击系统和Peltier高低温测试模组。 9. UFS 4.0, eMMC, I3C 协议测试和 800G/1.6T 光模块测试 本章节介绍了UFS 4.0协议分析仪、I3C/I2C协议分析仪、TestMetrix VTE7100/UFS测试系统等。还详细介绍了UFS 3.1/4.0和eMMC 5.1的开发测试平台，以及800G/1.6T光模块的测试方案。 10. 附录 A: PCIe 和 NVMe 协议基础知识 本章节提供了PCIe、NVMe、CXL、DDR、UFS、NAND、HBM协议的Wiki介绍，涵盖了协议的历史、架构、应用场景等。还详细介绍了PCIe和NVMe的初始化过程，以及蛋蛋读NVMe系列和阿呆实战NVMe系列的实战经验分享。 11. 附录 B: SSD/服务器/存储测试转接卡以及延长线等夹具速查手册 本章节提供了PCIe Gen 5转接卡、适配卡、转接线、延长线等夹具的速查手册，涵盖了U.2、M.2、EDSFF等接口的适配器和线缆。还介绍了PCIe Gen 5主机卡、Switch卡、Retimer卡等产品的详细信息。 12. 附录 C: Quarch测试工具速查手册 本章节详细介绍了Quarch的热插拔和故障注入工具、电压拉偏功耗测量工具、物理层切换设备等。还提供了Quarch Power Studio（QPS）的管理软件和自动化选项，适用于SSD、GPU、AI卡等设备的功耗测试和分析。 13. 附录 D: PCIe Gen 4/5/6 测试工具定制开发 本章节介绍了PCIe Gen 4/5/6测试工具的定制开发，涵盖了协议分析仪、故障注入模块、热插拔模块等产品的定制开发流程和案例。 14. 附录 E: PCIe Gen 4/5/6 互操作性和兼容性测试夹具 本章节介绍了PCIe Gen 4/5/6互操作性和兼容性测试夹具的设计和应用，涵盖了不同接口和协议的兼容性测试方案。 15. 附录 F: PCIe 5.0 协议诊断、分析、测试常用工具和经验分享及 CXL 技术研讨 本章节分享了PCIe 5.0协议诊断、分析和测试的常用工具和经验，还介绍了CXL 1.1/2.0/3.0技术研讨会的PPT内容，以及R&S罗德与施瓦茨公司VNA测试PCIe Gen 5延长线缆信号质量的案例。 16. 附录 G: 针对 Gen5 M.2 SSD 和超薄笔记本散热的新方案 本章节介绍了针对Gen5 M.2 SSD和超薄笔记本散热的新方案，包括OWC使用Mini冷却器开发的32TB和64TB SSD设备，以及Mini冷却器风扇在MacBook Air中的应用。 17. 附录 H: AI 大模型训练/推理基础原理和底层硬件兼容性、稳定性诊断、分析和测试介绍 本章节详细介绍了AI大模型训练和推理的基础原理，以及底层硬件的兼容性、稳定性诊断、分析和测试工具。还分享了SerialTek PCIe协议分析仪和Quarch工具在AI训练和推理过程中的典型问题分析和解决方案。 白皮书总结 本文全面介绍了PCIe Gen 5.0/6.0、CXL、NVMe/NVMoF、SSD、NAND、DDR5等技术的测试工具和方法，涵盖了从协议分析、故障注入、热插拔测试到电压拉偏、功耗测试等多个方面。通过详细的目录结构和内容描述，本文为从事相关领域的工程师提供了全面的测试解决方案和工具参考。 下载链接： https://pan.baidu.com/s/1niAzLeLnk2cRhRs5eR61kA?pwd=2ica 提取码: 2ica 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe/NVMoF, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请访问：www.saniffer.cn / www.saniffer.com 访问我们的相关测试工具和产品；或者添加saniffer公众号留言，致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。  

一周以前发表的《【重磅信息】4月份，PCIe Gen6 x16测试环境来了！》介绍了未来一段时间搭建PCIe 6.0测试环境的关键产品 - PCIe 6.0 x16 host card，既可以用来测试CPU端，也可以用来测试各类device端，当然也可以用来测试各类PCIe Gen6 Switch或者Retimer卡 - 连接在这类产品的上、下游即可实现和这类switch/retimer产品的建链测试、兼容性，或者运行性能测试的需要。不过，由于4月份供给该Gen6 host card的芯片很少，所以，有可能出现一个现象就是，如果第一批次无法买到的话，那么可能今年面临一个无法交付的真空期。 除了该重磅PCIe 6.0 host card，对于早期部署测试你的PCIe 6.0芯片或者产品的实验室来讲，Saniffer还提供你很多其它也是必须的PCIe 6.0互联产品。今天简单总结介绍一下。 一、PCIe 6.0互联产品概述 下面的简介主要围绕PCIe Gen6（或称PCIe 6.0）相关的互联解决方案、测试设备及适配器展开，涵盖了各种硬件组件、连接方案及其技术特性。这些产品主要应用于高性能计算、数据中心以及专业实验室环境，旨在优化高速数据传输的稳定性、信号完整性及系统兼容性。 二、主要产品及应用 平常实验室常用的对于测试比较关键的PCIe Gen6 产品，包括各类适配器、主机卡、交换卡及相关布线方案，具体如下： Gen6 AIC 适配器系列 Gen6 x8 AIC – E3.S 适配器 Gen6 x8 AIC – E1.S 适配器 Gen6 x16 AIC – x16 E3.S 适配器 Gen6 x8 AIC – E3.S 适配器（带Quarch PAM夹层用于功耗和sideband监测） 主要用于高效连接E3.S/E1.S存储设备，某些型号配备功率分析模块，支持功耗监测。   Gen6 PCIe 互联与测试组件 Gen6 x16 PCIe Atlas 3 主机卡 （上期公众号介绍） 基于Broadcom Atlas 3 交换机，支持 144 通道，具备4个Gen6 x8 MCIO连接器，可用于下游设备扩展。 集成MCU，支持CLI控制，提供固件、PCIe速度、位宽、温度、电压、电流等监控功能。 预计2025年4月发货。   Gen6 x16 – Lane Reducer x16 → x1、x4、x8       降速卡，用于调节PCIe通道数，优化实验室或测试环境的兼容性。 PCIe Gen6 Retimer 及 Broadcom 自适应 Retimer 卡 主要用于信号增强，提高信号完整性并减少长距离传输损耗。 Gen6 PCIe/CXL Switch 卡、主机卡 支持CXL（Compute Express Link），适用于连接加速计算资源，如GPU、DPU等。 Gen6 PCIe 扩展及测试设备 基于 Astera Switch 的GPU扩展机箱 Gen6 PCIe/CXL x8 E3 EDSFF 直插适配器（带Quarch PAM夹层） 该适配器集成Quarch Technology的功率分析和sideband监控模块，可提供精准的功耗分析。 三、Gen6 布线及信号完整性优化 为解决PCIe 6.0高速传输的信号衰减问题，Saniffer也提供多项优化布线和信号完整性方案： 升级版 Paddle Printed Circuit Boards 采用优化PCB材料，减少阻抗波动，提高信号完整性。 低阻抗、低衰减设计，减少高速信号损耗。 升级版 Raw Wires 提供更优质的传输介质，提升信号稳定性。 PCIe 6.0信号完整性测试夹具 专用于高速信号的测试优化，提高实验室测试的精准度。     四、PCIe 6.0/CXL 3.1各类互联线缆介绍 下面这些线缆是2024年已经发货的PCIe 6.0线缆产品。 五、PCIe 6.0实验室测试环境搭建产品总结 Gen6 PCIe 解决方案聚焦于高带宽、高稳定性、高兼容性，针对数据中心、存储系统、测试实验室等应用场景，提供了一整套适配器、交换卡、信号增强、功耗分析及布线优化方案。这些产品的核心优势包括： 支持PCIe 6.0（某些支持CXL 3.1），适用于下一代高性能计算需求。 采用Broadcom Atlas 3交换架构，确保高速数据吞吐。 集成信号调节、功耗分析、链路监控等智能管理功能，增强系统可靠性。 提供一整套互联组件，涵盖从主机到存储、GPU等全方位应用场景。 如果你们实验室计划部署或者测试Gen6 PCIe相关架构和产品，建议： 重点关注Gen6 PCIe Atlas 3主机卡及交换机，作为核心互联设备。 在实验室或测试环境中优先部署Retimer卡及Lane Reducer，优化信号质量与通道分配。 采用Quarch PAM 功耗分析适配器，精确测量功耗，优化能效管理。 结合升级版PCB与布线方案，确保信号完整性，减少高速传输衰减。 未来我们将提供更多的各类PCIe 6.0的不同接口之间的转接卡、线缆等供实验室测试使用。下面是业内定义的常见的Gen6 connector的规格介绍。 这一代PCIe产品的推出，将助力高性能计算、AI训练及数据中心迈向更高速、更稳定的时代。 如果想了解更多PCIe Gen6的测试相关环境搭建和协议测试工具，请参考《PCIe5&6.0, CXL, NVMeNVMoF, SSD, NAND, DDR5, 800GE测试技术和工具白皮书_ver11.11》的Chapter2和Chapter 5章节。同时请关注我们公众号，我们将在2025/3增加更多PCIe Gen6的全球业内最新的发展情况，推出《PCIe5&6.0, CXL, NVMeNVMoF, SSD, NAND, DDR5, 800GE测试技术和工具白皮书_ver12.0》。 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请添加saniffer公众号留言，或致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。  

全球范围内，很多领先公司都在开发PCIe Gen6的CPU（集成RC - root complex）或者各种功能的板卡芯片（EP - end point)，或者连接在RC和EP中间的Gen6 x6 switch或者retimer产品，目前大家都苦于没有合适的“对端”产品可以对接测试，因为大家的产品都在内部样品阶段，都无法从市场上买到任何PCIe Gen6的产品。 目前业内首款可以销售的，同时可以订货的PCIe Gen6 x16板卡，既可以作为RC端，也可以作为end point 端，可以满足各类Gen6 芯片验证的需要，该板卡在2025/4月份正式发货，由于前期数量非常有限，如果需要的需提前订货，将按照排队情况依次发货。 PCIe Gen6 x16插卡说明 参见上图，该PCIe Gen6 x16卡顶部有一个Gen6 x16 插槽，可以直接插入end point验证卡进行对接测试，也可以配合x16 golden finger转接成2个MCIO X8 male cable连接其它使用MCIO接入的板卡。 侧面两边各有2个，总计4个Gen6 x8 MCIO接口，每个x8 connector可以配合MCIO 转接2个Gen6 x4 EDSFF female等接口连接Gen6 E1.S, E3.S等SSD。 注意：其它可以配合该卡的各种PCIe Gen6 x16转接卡，线缆等可以下载我们的白皮书，参考其中的第五章节，或者直接联系我们，参见本文底部联系方式。 下面是如何测试Gen6 x16 endpoint和CPU端，或者retimer的具体连方式。 1）测试EndPoint环境搭建 2）测试CPU端（RC）环境搭建 3）测试PCIe Gen6 x16 retimer环境搭建 可以将Gen6 x16 retimer串接在两个Gen6 x16 switch链路中间即可。 如果想了解更多PCIe Gen6的测试相关环境搭建和协议测试工具，请参考《PCIe5&6.0, CXL, NVMeNVMoF, SSD, NAND, DDR5, 800GE测试技术和工具白皮书_ver11.11》的Chapter2和Chapter 5章节。同时请关注我们公众号，我们将在2025年春节后增加更多PCIe Gen6的全球业内最新的发展情况，推出《PCIe5&6.0, CXL, NVMeNVMoF, SSD, NAND, DDR5, 800GE测试技术和工具白皮书_ver12.0》。 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请添加saniffer公众号留言，或致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。  

平时大家可能并不是经常接触EDSFF SSD，或者EDSFF SSD的服务器和存储系统，本期视频简单展示如何通过SerialCables 公司的0.5米PCIe Gen5 X4 EDSFF延长线将一台台式机/工作站变成一个拥有EDSFF接口的主机。 视频分为两部分：1.物理环境连接；2.使用效果展示。 测试环境描述 测试平台：ASROCK AMD X670E主板，支持PCIe Gen5 被测设备：SerialCables 0.5m EDSFF Gen5 X4 延长线 存储设备：KIOXIA GEN5 X4 E3.S SSD 转接组件：SerialCables EDSFF 转 PCIe Gen5 X8 转接卡 0.5m Gen5 X4 EDSFF延长线细节展示： 公头 母头 连接方式 连接时一定要注意对准箭头，如果插反了有可能烧线！！！（这个EDSFF接口有点像usb type-c一样，物理上正反都可以插入，但是实际上必须对齐箭头插入才能正常工作）。 正确连接方式 错误连接方式 以下是视频 （注意：视频中的Dell/EMC的E3.S SSD本来是x4，但是因为经常测试有损坏导致目前只能工作在x2，不是转接卡和线缆问题） 如果想了解更多EDSFF环境搭建所需的各种板卡和转接卡、延长线，请参考《PCIe5&6.0, CXL, NVMeNVMoF, SSD, NAND, DDR5, 800GE测试技术和工具白皮书_ver11.11》的chapter 5章节。同时请关注我们公众号，我们将在2025年春节后增加更多PCIe Gen6的全球业内最新的发展情况，推出《PCIe5&6.0, CXL, NVMeNVMoF, SSD, NAND, DDR5, 800GE测试技术和工具白皮书_ver12.0》。 如果你有其他任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的问题想咨询，请添加Saniffer公众号留言，或致电021-50807071 / 13127856862，sales@saniffer.com。